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《泰德蘭電子》提供AOS美國萬代功率MOSFET的型號選型及應用問題分析以及mojay茂捷的AC-DC,torex特瑞仕的DC-DC電源IC/霍尼韋爾(Honeywell)感測器等方案型號推薦---充電器晶片有哪些,手機電源ic晶片壞了怎麼辦,是否與充電器有關?
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  • 1 # AOS美國萬代半導體

    答:充電器晶片有哪些?所有的電子裝置都離不開晶片,日常生活充電器也是隨處可見,是充電裝置必不可少的一部分,充電器晶片作為充電器的核心元器件,主要是將交流電轉換為匹配的直流電來“輸送能量”,在充電環節中起到了至關重要的作用,直接影響到充電器的使用效率及壽命,下面我們一起了解下常用的充電器晶片有哪些。

    充電器晶片常用型號

    如果需要產品手冊、原理圖,電源輸入輸出規格,BOM 表和變壓器引數等詳細資料的,請向我們申請。

    市場上的充電器晶片種類繁多,效能參差不齊,各種雜波、浪湧等干擾頻發,導致充電器損壞故障,輕則整機不能正常工作,重則將影響手機電池的使用壽命,讓電源工程師苦不堪言,因此選擇一款適合的充電器晶片極其重要。

    深圳市茂捷(mojay)半導體有限公司在充電器介面卡領域提供完整功率段的AC/DC電源晶片,5-10W內建高壓啟動及功率管的PSR系列、10-18W內建高壓啟動及功率管的Flyback系列、15-90W外接MOS控制器系列等多種架構的產品,是普通充、快充、無線充、充電電源晶片完整方案供應商。

    電源ic是手機的“供電中心”手機電源ic晶片出現故障的情況下,可能會出現充電異常,手機無法開機,耗電異常,螢幕鍵盤失靈等等問題。而手機出現此類情況後,是無法直觀的判斷出故障原因,只能透過拆機進行相關檢測後,才能明確故障部位與原因,茂捷電子建議各位同仁在手機出現異常的時候使用者可以第一時間將手機送往品牌客服進行檢測。

    那麼手機電源ic晶片又是因為什麼原因導致損壞的呢,下面讓我們來看看:

    1、充電器輸出規格與手機不符:山寨的小功率充電器,電流不夠,會被手機拉跨,充電器反覆在啟動和拉跨之間跳動,其產生的衝擊很容易讓電源IC損壞。

    2、輸入電壓極性不對或插反:標準的介面一般比較難插,反這個可能性有,但不高。

    3、浪湧衝擊:充電器質量不行的話,在給手機充電過程中,如同電網附近有大型裝置開啟或停止,導致電網衝擊。從而使輸出電壓上疊加尖峰浪湧,與雷擊相似,導致超過IC 極限而損壞。

    4、靜電損壞:電源晶片的耐壓有限,一般有ESD電路做保護,如果手機設計介面暴露,且無ESD防護,則非常容易在乾燥的環境和化纖衣物摩擦造成靜電損壞,還有使用破損的充電線,也容易使靜電透過資料線損壞到充電IC。

    電源ic晶片是電子產品開關電源的脈寬控制整合,電源完全靠它來控制輸出電壓電流的的大小,來維持整個系統的穩定,幾年前, 電源ic還僅僅是整合穩壓器件和DC/DC轉換器, 但現在電源ic包括DC/DC、LDO、電池充放電管理、PWM控制器、Reset、PFC、節能控制、功率MOSEFT等等。電源ic現在的發展趨勢已經不侷限於單一功能,而是將各種功能整合在一起,所以電源ic又被稱為電源管理ic。

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