電學層析成像，Electrical Tomography, ET，是層析成像技術的一種，其透過對被測物體施加電激勵，並檢測其邊界值的變化，利用特定數學手段逆推被測物體內部的電特性引數分佈，從而得到物體內部的分佈情況。
與其它層析成像技術相比，電學層析成像具有無輻射、響應速度快、價格低廉等優勢。
電學層析成像技術存在三種基本形式，即電容層析成像（Eletrical Capacitance Tomography, ECT）、電阻層析成像（Electrical Resistance Tomography, ERT）和電磁層析成像（Eletromagnetic Tomography, EMT），其中電阻層析成像和電容層析成像又可以合稱為電阻抗層析成像（Eletrical Impedance Tomography, EIT）技術。
其中，ECT與ERT無論是在數學模型、正問題及逆問題求解，還是資料採集方面，都非常的相似；因而，國內外一些研究人員都在嘗試將此二種技術進行融合。在歐洲，以前UMIST和LEEDS大學等多所研究機構合作，在這一領域進行了探索性的研究，透過技術的轉讓，成立了ITS公司，進行ECT與ERT雙模態層析成像系統的生產。但其雙模態產生的融合程度有限，ECT與ERT感測器分別位於不同截面，難於體現同一截面的物質分佈情況。
電學層析成像，Electrical Tomography, ET，是層析成像技術的一種，其透過對被測物體施加電激勵，並檢測其邊界值的變化，利用特定數學手段逆推被測物體內部的電特性引數分佈，從而得到物體內部的分佈情況。
與其它層析成像技術相比，電學層析成像具有無輻射、響應速度快、價格低廉等優勢。
電學層析成像技術存在三種基本形式，即電容層析成像（Eletrical Capacitance Tomography, ECT）、電阻層析成像（Electrical Resistance Tomography, ERT）和電磁層析成像（Eletromagnetic Tomography, EMT），其中電阻層析成像和電容層析成像又可以合稱為電阻抗層析成像（Eletrical Impedance Tomography, EIT）技術。
其中，ECT與ERT無論是在數學模型、正問題及逆問題求解，還是資料採集方面，都非常的相似；因而，國內外一些研究人員都在嘗試將此二種技術進行融合。在歐洲，以前UMIST和LEEDS大學等多所研究機構合作，在這一領域進行了探索性的研究，透過技術的轉讓，成立了ITS公司，進行ECT與ERT雙模態層析成像系統的生產。但其雙模態產生的融合程度有限，ECT與ERT感測器分別位於不同截面，難於體現同一截面的物質分佈情況。