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1 # isfnn4231
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2 # 使用者2008204498042
首先要區別是什麼物質的XRD圖譜,比如單晶、多晶(粉末)等. 峰高:對多晶來說,峰高由同方向排列的晶面分佈數量(texture)決定,即:若所有晶粒為同方向排列,則此時各個晶面的峰高要大於無規律排列的晶粒. 而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定. 另外,如果樣品不為純晶體,而同時存在非晶體的情況下,不同XRD影象同一位置角度對應的 峰高不同則反映了晶體成分的多少. 晶體化程度越高,相應的峰越高.峰寬:一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響:從儀器角度說,因素為所用X射線的波長分佈,即使是單色X射線也不完全只有唯一確定波長; 從多晶樣品角度說,FWHM和晶粒大小成反比,即,晶粒直徑越小對應的FWHM越大, 具體計算可以參考Scherrer equation.峰面積:也稱為integral intensity. 這個值同樣不是由某單一值決定,和樣品本身相關的量有:該峰對應晶面的數量,晶胞體積,晶粒體積,structure factor等.以上只是粗略說明,具體情況還是需要具體分析.
峰高指衍射峰頂點到背景線之間的高度; 峰面積則指峰在背景線以上部分的總面積,也稱積分強度.在進行定量計算時,用積分強度(峰面積)更加準確,因為峰寬會受到樣品晶粒尺寸大小影響,從而影響到峰高.比方說某一混合物中含有材料A,含量固定,則A的峰面積應當是一樣的,但A晶粒尺寸小時由於峰寬化,峰高自然會比晶粒尺寸大的情況下要矮.