1、使用數字萬用表檢查可控矽
數字萬用表撥至二極體擋，紅表筆接某一電極，黑表筆分別 接觸另外兩個電極。如果其中有一次顯示電壓為零點幾伏， 則此時紅表筆接的是控制極G，黑表筆接的是陰極K，餘下 的則是陽極A。假如兩次都顯示溢位，說明紅表筆接的不是 控制極，需更換電極重測。
測試可控矽的觸發能力數字萬用 PNP擋，此時 hFE 插口上的兩個 帶負電，電壓為2.8V。可控矽的三個電極各用一根導線引出，陽極A、陰極K 引線分別插人E 孔，控制極G懸空。 此時可控矽關斷，陽極電流為零，將顯示 000。把控制極 插人另一個E孔。
顯示值將從000 開始迅速增加，直到顯示 溢位符號後，立即又變成 000，然後再次從 000 變到溢位， 這樣週而復始。採用此法可確定可控矽的觸發是否可靠。但 這樣的測試由於電流較大，應儘量縮短測試時間。必要時也可在可控矽的陽極上串一隻幾百歐的保護電阻。如果使用 NPN 擋，可控矽陽極A 應接C 孔，陰極K 孔，以保證所加的是正向電壓。
一、可控矽：
可控矽(Silicon Controlled Rectifier) 簡稱SCR，是一種大功率電器元件，也稱閘流體。它具有體積小、效率高、壽命長等優點。在自動控制系統中，可作為大功率驅動器件，實現用小功率控制元件控制大功率裝置。它在交直流電機調速系統、調功系統及隨動系統中得到了廣泛的應用。
可控矽分單向可控矽和雙向可控矽兩種。雙向可控矽也叫三端雙向可控矽，簡稱TRIAC。雙向可控矽在結構上相當於兩個單向可控矽反向連線，這種可控矽具有雙向導通功能。其通斷狀態由控制極G決定。在控制極G上加正脈衝(或負脈衝)可使其正向(或反向)導通。這種裝置的優點是控制電路簡單，沒有反向耐壓問題，因此特別適合做交流無觸點開關使用。
二、測量方法：
鑑別可控矽三個極的方法很簡單，根據P-N結的原理，只要用萬用表測量一下三個極之間的電阻值就可以。
陽極與陰極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上，陽極和控制極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上（它們之間有兩個P-N結，而且方向相反，因此陽極和控制極正反向都不通） [1] 。
控制極與陰極之間是一個P-N結，因此它的正向電阻大約在幾歐-幾百歐的範圍，反向電阻比正向電阻要大。可是控制極二極體特性是不太理想的，反向不是完全呈阻斷狀態的，可以有比較大的電流透過，因此，有時測得控制極反向電阻比較小，並不能說明控制極特性不好。另外，在測量控制極正反向電阻時，萬用表應放在R*10或R*1擋，防止電壓過高控制極反向擊穿。
若測得元件陰陽極正反向已短路，或陽極與控制極短路，或控制極與陰極反向短路，或控制極與陰極斷路，說明元件已損壞。
可控矽是可控矽整流元件的簡稱，是一種具有三個PN接面的四層結構的大功率半導體器件。實際上，可控矽的功用不僅是整流，它還可以用作無觸點開關以快速接通或切斷電路，實現將直流電變成交流電的逆變，將一種頻率的交流電變成另一種頻率的交流電，等等。
可控矽和其它半導體器件一樣，其有體積小、效率高、穩定性好、工作可靠等優點。它的出現，使半導體技術從弱電領域進入了強電領域，成為工業、農業、交通運輸、軍事科研以至商業、民用電器等方面爭相採用的元件。
1、使用數字萬用表檢查可控矽
數字萬用表撥至二極體擋，紅表筆接某一電極，黑表筆分別 接觸另外兩個電極。如果其中有一次顯示電壓為零點幾伏， 則此時紅表筆接的是控制極G，黑表筆接的是陰極K，餘下 的則是陽極A。假如兩次都顯示溢位，說明紅表筆接的不是 控制極，需更換電極重測。
測試可控矽的觸發能力數字萬用 PNP擋，此時 hFE 插口上的兩個 帶負電，電壓為2.8V。可控矽的三個電極各用一根導線引出，陽極A、陰極K 引線分別插人E 孔，控制極G懸空。 此時可控矽關斷，陽極電流為零，將顯示 000。把控制極 插人另一個E孔。
顯示值將從000 開始迅速增加，直到顯示 溢位符號後，立即又變成 000，然後再次從 000 變到溢位， 這樣週而復始。採用此法可確定可控矽的觸發是否可靠。但 這樣的測試由於電流較大，應儘量縮短測試時間。必要時也可在可控矽的陽極上串一隻幾百歐的保護電阻。如果使用 NPN 擋，可控矽陽極A 應接C 孔，陰極K 孔，以保證所加的是正向電壓。
一、可控矽：
可控矽(Silicon Controlled Rectifier) 簡稱SCR，是一種大功率電器元件，也稱閘流體。它具有體積小、效率高、壽命長等優點。在自動控制系統中，可作為大功率驅動器件，實現用小功率控制元件控制大功率裝置。它在交直流電機調速系統、調功系統及隨動系統中得到了廣泛的應用。
可控矽分單向可控矽和雙向可控矽兩種。雙向可控矽也叫三端雙向可控矽，簡稱TRIAC。雙向可控矽在結構上相當於兩個單向可控矽反向連線，這種可控矽具有雙向導通功能。其通斷狀態由控制極G決定。在控制極G上加正脈衝(或負脈衝)可使其正向(或反向)導通。這種裝置的優點是控制電路簡單，沒有反向耐壓問題，因此特別適合做交流無觸點開關使用。
二、測量方法：
鑑別可控矽三個極的方法很簡單，根據P-N結的原理，只要用萬用表測量一下三個極之間的電阻值就可以。
陽極與陰極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上，陽極和控制極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上（它們之間有兩個P-N結，而且方向相反，因此陽極和控制極正反向都不通） [1] 。
控制極與陰極之間是一個P-N結，因此它的正向電阻大約在幾歐-幾百歐的範圍，反向電阻比正向電阻要大。可是控制極二極體特性是不太理想的，反向不是完全呈阻斷狀態的，可以有比較大的電流透過，因此，有時測得控制極反向電阻比較小，並不能說明控制極特性不好。另外，在測量控制極正反向電阻時，萬用表應放在R*10或R*1擋，防止電壓過高控制極反向擊穿。
若測得元件陰陽極正反向已短路，或陽極與控制極短路，或控制極與陰極反向短路，或控制極與陰極斷路，說明元件已損壞。
可控矽是可控矽整流元件的簡稱，是一種具有三個PN接面的四層結構的大功率半導體器件。實際上，可控矽的功用不僅是整流，它還可以用作無觸點開關以快速接通或切斷電路，實現將直流電變成交流電的逆變，將一種頻率的交流電變成另一種頻率的交流電，等等。
可控矽和其它半導體器件一樣，其有體積小、效率高、穩定性好、工作可靠等優點。它的出現，使半導體技術從弱電領域進入了強電領域，成為工業、農業、交通運輸、軍事科研以至商業、民用電器等方面爭相採用的元件。