一般粒度分析儀是透過代表性地掃描顆粒數目進行統計，圖中藍色曲線代表每個粒度所佔百分比，對應橫座標（粒度）和左邊縱座標（百分比）；紅色曲線代表粒度的累積百分比，對應橫座標（粒度）和右邊縱座標（百分比）。從圖中可以看出，此顆粒較細，主要集中在50微米到150微米之間。

鐳射粒度分析儀KW510的粒度分佈圖和分佈表分析：

首先要搞懂粒度分析圖裡面的名稱概念都分別代表什麼含義：

1. 分散介質：用於分散被測樣品的液體介質。分散介質與被測顆粒不能發生化學反應，也不能溶解被測樣品。2. 測試範圍：即所測粒徑的區域，在軟體的資料模板中選定。它與儀器的檔位相對應。3. 分散劑：能夠改變顆粒與液體之間的介面狀態，促進顆粒分散的化學物質。4.分析模式：自由分佈，即由無約束自由擬合算法所得的樣品本身固有的自然粒度 分佈。本軟體中還有R-R分佈和對數正態分佈。5. 樣品濃度：光學濃度；遮光比。6. 擬合誤差：能譜資料向粒度分佈資料轉換時產生的計算誤差。

引數定義：

1. D10或X10：顆粒累積分佈為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。2. D50或X50：顆粒累積分佈為50%的粒徑。即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%。3. D90或X90：顆粒累積分佈為90%的粒徑。即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%。4. X[3，2]：表面積平均粒徑，是粒徑對錶面積的加權平均，又稱索太爾平均徑。5. X[4，3]：體積平均粒徑，是粒徑對體積（或重量）的加權平均，同上述Xav。6.S/V：體積比表面積；單位體積顆粒的表面積。 7. DAV或XAV：顆粒群的平均粒徑。8. 等效直徑：周長等效直徑：dc=C/π(C：顆粒截面周長 )、 顆粒體積估算值： V=πda3/6、顆粒表面積估算值 ：S=πda29. 形狀分析資料：

l 球形度： Q=截面積等效直徑/周長等效直徑，球形度表徵顆粒接近球形的程度。球體的球形度等於1；其他顆粒球形度小於1。

l 長寬比：L=顆粒長度/顆粒寬度，表徵顆粒柱形的程度。