只有先得出CA，CP才可以算出CPK，計算公式：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)。依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程準確度：Ca值依據公式：Cp =T/6 ， 計算出製程精密度：Cp值依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值CP和CPK的區別：CP: 不考慮偏移(均值是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cp反映的是能夠達到的過程能力的最高水平, 除非進行剔除普通原因的系統措施. CPK: 考慮偏移(均值不是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cpk反映實際的過程能力, 提高的途徑是減少偏移, 往往是採取一些剔除特殊原因的區域性措施即可提高Cpk值.擴充套件資料：我們常常提到的過程能力指數Cp、Cpk是指過程的短期能力。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差範圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）Cp=T/（6*σ)所以σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cpk是指過程平均值與產品標準規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分佈的總體標準差（σ）是未知的，所以應採用樣本標準差（s）來代替。1. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。2. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。3. 計算Cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。4. 首先可用Excel的“STDEV”函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；

首先Cpk，Cp和過程穩定性沒有必然關係，反而是過程穩定了後才計算Cp和Cpk。

邏輯：計算Cp和Cpk的前提條件是過程的分佈要近似正態分佈，所以要先證明過程符合正態分佈，再計算Cp和Cpk；而過程符合正態分佈，即要符合統計受控的條件，因此要證明過程要處於統計受控，否則單純計算Cp和Cpk不能說明過程穩定。