可控矽如何檢測極性？
答；可控矽(閘流體SCR)分為單相可控矽、雙向可控矽、可控矽模組等；單相可控矽也具有二極體單相導電效能，但是與矽整流二極體特性不同，它有一個門極G(控制極)，一個陽極(A)，一個陰極(K)。如下圖所示。
(1)單向可控矽的檢測
①可控矽電極的判別 根據普通可控矽的結構可知其門極(G)與陰極(K) 之間存在一個 具有單向導電特性，而陽極(A)與G極之間存在兩個反極性串聯的PN接面；故將萬用表置於R×100擋位或R×Ik擋位，來測量普通可控矽各引腳之間的電阻值，即可確定普通可控矽的三個電極。
具體的判別方法:將萬用表黑表筆接人可控矽的任一極、 紅表筆分別觸碰另外兩個電極；若一次電阻測量值為幾千歐姆、而另一次電阻測量值為幾百歐姆，則表明黑表筆接人的是門極；且在電阻測量值為幾百歐姆的測量中，紅表筆接人的是陰極，在阻值為幾兆歐姆的測量中，紅表筆接的是陽極。若兩次測出的電阻值均很大，則表明黑表筆接人的不是門極，應以同樣方法改測其他電極，直至找出全部3個電極為止；也可以測任意兩腳之間的正、反向電阻，若正、 反向電阻均接近無窮大，則表明表筆接入的這兩極分別是陽極和陰極，而另一引腳即為門極。普通可控矽也可以根據其封裝形式來判別各個電極。例如，螺栓形普通可控矽的螺栓一端為陽極，較細的引線端為門極，較粗的引線端則為陰極；平板形普通的引出線端為門極，平面端為陽極，另一端為陰極。又如，金屬殼封裝(TO-3) 普通可控矽，其外殼為陽極；塑封(TO-220) 普通可控矽的中間引腳為陽極，且陽極多與自帶散熱片相連。
下面為大家提供了幾種普通可控矽的引腳排列形式。
②可控矽效能好壞的判斷將萬用表置於 R ×1k擋位，測量普通可控矽管陽極與陰極之間的正、反向電阻；正常情況下，兩個電阻測量值均應為∞;若兩個電阻測量值均為0或均較小，則表明被測可控矽存在內部擊穿短路或漏電故障。
接著用萬用表測量門極與陰極之間的正、反向電阻值，正常情況下，應有類似二極體的正、反向電阻值(實際測量結果要比普通二極體的正、反向電阻值小一些)，即正向電阻值較小(<2KΩ)、反向電阻值較大(>8KΩ)；若兩次電阻測量均很大或很小，則說明該可控矽門極與陰極之間存在開路或短路問題；若正、反向電阻測量值均相等或接近，則說明該可控矽已經損壞(即門極與陰極之間的PN接面已經失去單相導電效能)。
最後測量陽極與門極之間的電阻；正常情況下兩個電阻測量值均應為幾百千歐姆或無窮大∞；若出現正、反向電阻值不一致，則說明陽極與門極之間反向串聯的兩個PN接面中的一個已經被擊穿。
(2)下面介紹用萬用表判定雙向的電極。
雙向可控矽與單相單相可控矽一樣，也具有觸發控制特性。不過它的觸發控制特性與單相可控矽有很大的不同，它具有雙向導通的特性，這就是無論在陽極(T1)和陰極(T2)接入一個任何極性的電壓，只要在它的控制極上加上一個任何極性的觸發脈衝電壓，都可以使雙向可控矽導通。
雙向可控矽是由N-P-N-P-N共5層半導體組成的器件，有第一電極(T1)、第二電極(T2)、控制極(G)3個電極，在結構上相當於兩個單相可控矽反極性並聯。如下圖所示
雙向可控矽的型號、封裝式樣比較多，如上圖所示。這一類雙向可控矽主要用於電路中調壓或作為交流無觸點開關使用。
對於各種式樣的雙向可控矽的三個極性的判別，可以對照上圖中所示，因為它們的管腳排列都是有規定的；如果本人不是特別熟悉可控矽或者需要判別可控矽的好壞，則可以用指標式萬用表或數字萬用表來進行簡單的測量；
下面介紹使用萬用表判別雙向可控矽電極的方法；①用萬用表首先找出主電極T2。將萬用表撥至R×100擋，用黑表筆接雙向可控矽的任一個電極，紅表筆分別接雙向可控矽的另外兩個電極，如果錶針不動，說明黑表筆接的就是主電極T2。否則就要把黑表筆再調換到另一個電極上，按上述方法進行測量，直到找出主電極T2。
找到T2後接下來，再按下述方法找出T1和G極。由上圖可知道雙向可控矽T1與G是由兩個PN接面反向並聯的，因設計需要和結構的原因，T1與G之間的電阻值，依然存在正反向的差別。用萬用表R×10或R×1擋測T1和G之間的正、反向電阻，如一次是22Ω左右，一次是24Ω左右，則在電阻較小的一次（正向電阻）黑表筆接的是主電極T1，紅表筆接的是控制極G。
簡單地說，主電極T2與控制極G之間的正反向電阻值，在正常情況下兩次測量時的電阻值均接近無窮大∞；若測的電阻值均很小，則說明該可控矽已經擊穿或存在漏電短路。
如果使用數字萬用表測量，其表的蜂鳴器不能夠發出短路的蜂鳴聲音，電阻值的數字與指標式萬用表測量的電阻值是不同的，玩電子元器件靠自己平時經驗的積累。
知足常樂2019.3.15日於上海
可控矽如何檢測極性？
答；可控矽(閘流體SCR)分為單相可控矽、雙向可控矽、可控矽模組等；單相可控矽也具有二極體單相導電效能，但是與矽整流二極體特性不同，它有一個門極G(控制極)，一個陽極(A)，一個陰極(K)。如下圖所示。
(1)單向可控矽的檢測
①可控矽電極的判別 根據普通可控矽的結構可知其門極(G)與陰極(K) 之間存在一個 具有單向導電特性，而陽極(A)與G極之間存在兩個反極性串聯的PN接面；故將萬用表置於R×100擋位或R×Ik擋位，來測量普通可控矽各引腳之間的電阻值，即可確定普通可控矽的三個電極。
具體的判別方法:將萬用表黑表筆接人可控矽的任一極、 紅表筆分別觸碰另外兩個電極；若一次電阻測量值為幾千歐姆、而另一次電阻測量值為幾百歐姆，則表明黑表筆接人的是門極；且在電阻測量值為幾百歐姆的測量中，紅表筆接人的是陰極，在阻值為幾兆歐姆的測量中，紅表筆接的是陽極。若兩次測出的電阻值均很大，則表明黑表筆接人的不是門極，應以同樣方法改測其他電極，直至找出全部3個電極為止；也可以測任意兩腳之間的正、反向電阻，若正、 反向電阻均接近無窮大，則表明表筆接入的這兩極分別是陽極和陰極，而另一引腳即為門極。普通可控矽也可以根據其封裝形式來判別各個電極。例如，螺栓形普通可控矽的螺栓一端為陽極，較細的引線端為門極，較粗的引線端則為陰極；平板形普通的引出線端為門極，平面端為陽極，另一端為陰極。又如，金屬殼封裝(TO-3) 普通可控矽，其外殼為陽極；塑封(TO-220) 普通可控矽的中間引腳為陽極，且陽極多與自帶散熱片相連。
下面為大家提供了幾種普通可控矽的引腳排列形式。
②可控矽效能好壞的判斷將萬用表置於 R ×1k擋位，測量普通可控矽管陽極與陰極之間的正、反向電阻；正常情況下，兩個電阻測量值均應為∞;若兩個電阻測量值均為0或均較小，則表明被測可控矽存在內部擊穿短路或漏電故障。
接著用萬用表測量門極與陰極之間的正、反向電阻值，正常情況下，應有類似二極體的正、反向電阻值(實際測量結果要比普通二極體的正、反向電阻值小一些)，即正向電阻值較小(<2KΩ)、反向電阻值較大(>8KΩ)；若兩次電阻測量均很大或很小，則說明該可控矽門極與陰極之間存在開路或短路問題；若正、反向電阻測量值均相等或接近，則說明該可控矽已經損壞(即門極與陰極之間的PN接面已經失去單相導電效能)。
最後測量陽極與門極之間的電阻；正常情況下兩個電阻測量值均應為幾百千歐姆或無窮大∞；若出現正、反向電阻值不一致，則說明陽極與門極之間反向串聯的兩個PN接面中的一個已經被擊穿。
(2)下面介紹用萬用表判定雙向的電極。
雙向可控矽與單相單相可控矽一樣，也具有觸發控制特性。不過它的觸發控制特性與單相可控矽有很大的不同，它具有雙向導通的特性，這就是無論在陽極(T1)和陰極(T2)接入一個任何極性的電壓，只要在它的控制極上加上一個任何極性的觸發脈衝電壓，都可以使雙向可控矽導通。
雙向可控矽是由N-P-N-P-N共5層半導體組成的器件，有第一電極(T1)、第二電極(T2)、控制極(G)3個電極，在結構上相當於兩個單相可控矽反極性並聯。如下圖所示
雙向可控矽的型號、封裝式樣比較多，如上圖所示。這一類雙向可控矽主要用於電路中調壓或作為交流無觸點開關使用。
對於各種式樣的雙向可控矽的三個極性的判別，可以對照上圖中所示，因為它們的管腳排列都是有規定的；如果本人不是特別熟悉可控矽或者需要判別可控矽的好壞，則可以用指標式萬用表或數字萬用表來進行簡單的測量；
下面介紹使用萬用表判別雙向可控矽電極的方法；①用萬用表首先找出主電極T2。將萬用表撥至R×100擋，用黑表筆接雙向可控矽的任一個電極，紅表筆分別接雙向可控矽的另外兩個電極，如果錶針不動，說明黑表筆接的就是主電極T2。否則就要把黑表筆再調換到另一個電極上，按上述方法進行測量，直到找出主電極T2。
找到T2後接下來，再按下述方法找出T1和G極。由上圖可知道雙向可控矽T1與G是由兩個PN接面反向並聯的，因設計需要和結構的原因，T1與G之間的電阻值，依然存在正反向的差別。用萬用表R×10或R×1擋測T1和G之間的正、反向電阻，如一次是22Ω左右，一次是24Ω左右，則在電阻較小的一次（正向電阻）黑表筆接的是主電極T1，紅表筆接的是控制極G。
簡單地說，主電極T2與控制極G之間的正反向電阻值，在正常情況下兩次測量時的電阻值均接近無窮大∞；若測的電阻值均很小，則說明該可控矽已經擊穿或存在漏電短路。
如果使用數字萬用表測量，其表的蜂鳴器不能夠發出短路的蜂鳴聲音，電阻值的數字與指標式萬用表測量的電阻值是不同的，玩電子元器件靠自己平時經驗的積累。
知足常樂2019.3.15日於上海