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  • 1 # 何以笙丶丶

    單幢高層建築的勘探點數量,對勘察等級為甲級的不應少於5個,乙級不應少於4個。控制性勘探點的數量不應少於勘探點總數的1/3且不少於2個。

    根據高層建築勘察等級,勘探點間距應控制在15—35m範圍內,並符合下列規定:

    1甲級宜取較小值,乙級可取較大值。

    2在暗溝、塘、浜、湖泊沉積地帶和沖溝地區;在巖性差異顯著或基岩面起伏很大的基岩地區;在斷裂破碎帶、地裂縫等不良地質作用場地;勘探點間距宜取小值並可適當加密。

    高層建築詳細勘察階段勘探孔的深度應符合下列規定:

    1控制性勘探孔深度應超過地基變形的計算深度。

    2控制性勘探孔深度,對於箱形基礎或筏形基礎,在不具備變形深度計算條件時,可按式(4.1.4-1)計算確定:

    dc=d十αcβb(4.1.4-1)

    式中dc ——控制性勘探孔的深度(m);

    d--箱形基礎或筏形基礎埋置深度(m);

    αc——與土的壓縮性有關的經驗係數,根據基礎下的地基主要土層按表4.1.4取值;

    β—與高層建築層數或基底壓力有關的經驗係數,對勘察等級為甲級的高層建築可取1.1,對乙級可取1.0;

    b--箱形基礎或筏形基礎寬度,對圓形基礎或環形基礎,按最大直徑考慮,對不規則形狀的基礎,按面積等代成方形、矩形或圓形面積的寬度或直徑考慮

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