CSP與COB最大的差別就在於CSP封狀晶片感光面被一層玻璃保護,COB沒有相當於裸片。同一個鏡頭2種工藝作出來的模組高度有區別,COB要低點。在生產加工的時候,CSP對灰塵點要求相對低點 sensor表面如果還有灰塵點可以返工修復,COB則不可。
COB優勢:可將鏡片、感光晶片、ISP
以及軟板整合在一起,封裝測試後可直接交給組裝廠,COB 封裝方式為較為傳統的方式,取得Wafer 後,以Chip on Board 方式將die
固定於PCB 板再加上支架及鏡片作成模組,此生產方式重點為COB
良率的控制,故具有生產流程短,節約空間;工藝成熟及較低成本優勢(約低10%)。
COB缺點: COB 的缺點是製作過程中容易遭受汙染,對環境要求較高,製程裝置成本較高、良品率變動大、製程時間長,無法維修等,且若使用在相機模組當中,在摔落測試中,容易有Particle震出的問題。生產流程縮短,但這也表示製作模組的技術難度將大幅提升,影響良率的表現。
CSP優點:在
於封裝段由前段製程完成,CSP封裝適用於腳數少的IC,製程裝置成本較低、製程時間短,CSP
的優點包括封裝後的晶片尺寸與晶粒大小相當,適合應用於可攜式電子產品。又因晶片及電路板上僅隔著錫球或凸塊,可大幅縮短電路傳輸途徑,及減少電流損耗與
電磁波干擾發生的機率。此外因不需用塑膠或陶瓷包裝,晶片可由背面直接散熱。
CSP缺點:面臨的挑戰是光線穿透率不佳、價格較貴、高度較高、背光穿透鬼影現象。
CSP與COB最大的差別就在於CSP封狀晶片感光面被一層玻璃保護,COB沒有相當於裸片。同一個鏡頭2種工藝作出來的模組高度有區別,COB要低點。在生產加工的時候,CSP對灰塵點要求相對低點 sensor表面如果還有灰塵點可以返工修復,COB則不可。
COB優勢:可將鏡片、感光晶片、ISP
以及軟板整合在一起,封裝測試後可直接交給組裝廠,COB 封裝方式為較為傳統的方式,取得Wafer 後,以Chip on Board 方式將die
固定於PCB 板再加上支架及鏡片作成模組,此生產方式重點為COB
良率的控制,故具有生產流程短,節約空間;工藝成熟及較低成本優勢(約低10%)。
COB缺點: COB 的缺點是製作過程中容易遭受汙染,對環境要求較高,製程裝置成本較高、良品率變動大、製程時間長,無法維修等,且若使用在相機模組當中,在摔落測試中,容易有Particle震出的問題。生產流程縮短,但這也表示製作模組的技術難度將大幅提升,影響良率的表現。
CSP優點:在
於封裝段由前段製程完成,CSP封裝適用於腳數少的IC,製程裝置成本較低、製程時間短,CSP
的優點包括封裝後的晶片尺寸與晶粒大小相當,適合應用於可攜式電子產品。又因晶片及電路板上僅隔著錫球或凸塊,可大幅縮短電路傳輸途徑,及減少電流損耗與
電磁波干擾發生的機率。此外因不需用塑膠或陶瓷包裝,晶片可由背面直接散熱。
CSP缺點:面臨的挑戰是光線穿透率不佳、價格較貴、高度較高、背光穿透鬼影現象。