OTDR進行光纖測量的方法
一般採用光時域反射(OTDR)結構來實現被測量的空間定位。OTDR維修具有測試時間短、測試速度快、測試精度高等優點。OTDR在光纖施工過程中一般要進行四次測試。用OTDR進行光纖測量可分為三步：引數設定、資料獲取和曲線分析。人工設定測量引數包括：
(1)熔接機維修時波長選擇(λ)：
因不同的波長對應不同的光線特性(包括衰減、微彎等)，測試波長一般遵循與系統傳輸通訊波長相對應的原則，即系統開放1550波長，則測試波長為1550nm。(2)脈寬(Pulse Width)：
脈寬越長，動態測量範圍越大，測量距離更長，但在OTDR曲線波形中產生盲區更大；短脈衝注入光平低，但可減小盲區。脈寬週期通常以ns來表示。(3)測量範圍(Range)：
OTDR測量範圍是指OTDR獲取資料取樣的最大距離，此引數的選擇決定了取樣解析度的大小。最佳測量範圍為待測光纖長度1.5～2倍距離之間。(4)平均時間：
由於後向散射光訊號極其微弱，一般採用統計平均的方法來提高信噪比，平均時間越長，信噪比越高。例如，3min的獲得取將比1min的獲得取提高 0.8dB的動態。但超過 10min的獲得取時間對信噪比的改善並不大。一般平均時間不超過3min。(5)光纖引數：
光纖引數的設定包括折射率n和後向散射係數n和後向散射係數η的設定。折射率引數與距離測量有關，後向散射係數則影響反射與回波損耗的測量結果。這兩個引數通常由光纖生產廠家給出。 引數設定好後，OTDR即可傳送光脈衝並接收由光纖鏈路散射和反射回來的光，對光電探測器的輸出取樣，得到OTDR曲線，對曲線進行分析即可瞭解光纖質量。2 經驗與技巧
(1)光纖質量的簡單判別：
正常情況下，OTDR測試的光線曲線主體(單盤或幾盤光纜)斜率基本一致，若某一段斜率較大，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規則形狀，斜率起伏較大，彎曲或呈弧狀，則表明光纖質量嚴重劣化，不符合通訊要求。(2)波長的選擇和單雙向測試：
1550波長測試距離更遠，1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或聯結器損耗更高。在實際的光纜維護工作中一般對兩種波長都進行測試、比較。對於正增益現象和超過距離線路均須進行雙向測試分析計算，才能獲得良好的測試結論。(3)接頭清潔：
光纖活接頭接入OTDR前，必須認真清洗，包括OTDR的輸出接頭和被測活接頭，否則插入損耗太大、測量不可靠、曲線多噪音甚至使測量不能進行，它還可能損壞OTDR。避免用酒精以外的其它清洗劑或折射率匹配液，因為它們可使光纖聯結器內粘合劑溶解。(4)折射率與散射係數的校正：就光纖長度測量而言，折射係數每0.01的偏差會引起7m/km之多的誤差，對於較長的光線段，應採用光纜製造商提供的折射率值。(5)鬼影的識別與處理：
在OTDR曲線上的尖峰有時是由於離入射端較近且強的反射引起的迴音，這種尖峰被稱之為鬼影。識別鬼影：曲線上鬼影處未引起明顯損耗；沿曲線鬼影與始端的距離是強反射事件與始端距離的倍數，成對稱狀。消除鬼影：選擇短脈衝寬度、在強反射前端(如 OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位於光纖終結，可"打小彎"以衰減反射回始端的光。(6)正增益現象處理：
在OTDR曲線上可能會產生正增益現象。正增益是由於在熔接點之後的光纖比熔接點之前的光纖產生更多的後向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現在不同模場直徑或不同後向散射係數的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量並對結果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纜維護中，也可採用≤0.08dB即為合格的簡單原則。(7)附加光纖的使用：
附加光纖是一段用於連線OTDR與待測光纖、長300～2000m的光纖，其主要作用為：前端盲區處理和終端聯結器插入測量。 一般來說，OTDR與待測光纖間的聯結器引起的盲區最大。在光纖實際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區落在過渡光纖內，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩定區。光纖系統始端聯結器插入損耗可透過OTDR加一段過渡光纖來測量。如要測量首、尾兩端聯結器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。3 測試誤差的主要因素(1)OTDR測試儀表存在的固有偏差
由OTDR的測試原理可知，它是按一定的週期向被測光纖傳送光脈衝，再按一定的速率將來自光纖的背向散射訊號抽樣、量化、編碼後，儲存並顯示出來。 OTDR儀表本身由於抽樣間隔而存在誤差，這種固有偏差主要反映在距離分辯率上。OTDR的距離分辯率正比於抽樣頻率。
(2)測試儀表操作不當產生的誤差
在光纜故障定位測試時，OTDR儀表使用的正確性與障礙測試的準確性直接相關，儀表引數設定和準確性、儀表量程範圍的選擇不當或游標設定不準等都將導致測試結果的誤差。
(1)設定儀表的折射率偏差產生的誤差
不同型別和廠家的光纖的折射率是不同的。使用OTDR測試光纖長度時，必須先進行儀表引數設定，折射率的設定就是其中之一。當幾段光纜的折射率不同時可採用分段設定的方法，以減少因折射率設定誤差而造成的測試誤 差。
(2)量程範圍選擇不當
OTDR儀表測試距離分辯率為1米時，它是指圖形放大到水平刻度為25米/格時才能實現。儀表設計是以游標每移動25步為1滿格。在這種情況下，游標每移動一步，即表示移動1米的距離，所以讀出分辯率為1米。如果水平刻度選擇2公里/每格，則游標每移動一步，距離就會偏移80米。由此可見，測試時選擇的量程範圍越大，測試結果的偏差就越大。
(3)脈衝寬度選擇不當
在脈衝幅度相同的條件下，脈衝寬度越大，脈衝能量就越大，此時OTDR的動態範圍也越大，相應盲區也就大。
(4)平均化處理時間選擇不當
OTDR測試曲線是將每次輸出脈衝後的反射訊號取樣，並把多次取樣做平均處理以消除一些隨機事件，平均化時間越長，噪聲電平越接近最小值，動態範圍就越大。平均化時間越長，測試精度越高，但達到一定程度時精度不再提高。為了提高測試速度，縮短整體測試時間，一般測試時間可在0.5~3分鐘內選擇。
(5)游標位置放置不當
光纖活動聯結器、機械接頭和光纖中的斷裂都會引起損耗和反射，光纖末端的破裂端面由於末端端面的不規則性會產生各種菲涅爾反射峰或者不產生菲涅爾反射。如果游標設定不夠準確，也會產生一定誤差。
OTDR進行光纖測量的方法
一般採用光時域反射(OTDR)結構來實現被測量的空間定位。OTDR維修具有測試時間短、測試速度快、測試精度高等優點。OTDR在光纖施工過程中一般要進行四次測試。用OTDR進行光纖測量可分為三步：引數設定、資料獲取和曲線分析。人工設定測量引數包括：
(1)熔接機維修時波長選擇(λ)：
因不同的波長對應不同的光線特性(包括衰減、微彎等)，測試波長一般遵循與系統傳輸通訊波長相對應的原則，即系統開放1550波長，則測試波長為1550nm。(2)脈寬(Pulse Width)：
脈寬越長，動態測量範圍越大，測量距離更長，但在OTDR曲線波形中產生盲區更大；短脈衝注入光平低，但可減小盲區。脈寬週期通常以ns來表示。(3)測量範圍(Range)：
OTDR測量範圍是指OTDR獲取資料取樣的最大距離，此引數的選擇決定了取樣解析度的大小。最佳測量範圍為待測光纖長度1.5～2倍距離之間。(4)平均時間：
由於後向散射光訊號極其微弱，一般採用統計平均的方法來提高信噪比，平均時間越長，信噪比越高。例如，3min的獲得取將比1min的獲得取提高 0.8dB的動態。但超過 10min的獲得取時間對信噪比的改善並不大。一般平均時間不超過3min。(5)光纖引數：
光纖引數的設定包括折射率n和後向散射係數n和後向散射係數η的設定。折射率引數與距離測量有關，後向散射係數則影響反射與回波損耗的測量結果。這兩個引數通常由光纖生產廠家給出。 引數設定好後，OTDR即可傳送光脈衝並接收由光纖鏈路散射和反射回來的光，對光電探測器的輸出取樣，得到OTDR曲線，對曲線進行分析即可瞭解光纖質量。2 經驗與技巧
(1)光纖質量的簡單判別：
正常情況下，OTDR測試的光線曲線主體(單盤或幾盤光纜)斜率基本一致，若某一段斜率較大，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規則形狀，斜率起伏較大，彎曲或呈弧狀，則表明光纖質量嚴重劣化，不符合通訊要求。(2)波長的選擇和單雙向測試：
1550波長測試距離更遠，1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或聯結器損耗更高。在實際的光纜維護工作中一般對兩種波長都進行測試、比較。對於正增益現象和超過距離線路均須進行雙向測試分析計算，才能獲得良好的測試結論。(3)接頭清潔：
光纖活接頭接入OTDR前，必須認真清洗，包括OTDR的輸出接頭和被測活接頭，否則插入損耗太大、測量不可靠、曲線多噪音甚至使測量不能進行，它還可能損壞OTDR。避免用酒精以外的其它清洗劑或折射率匹配液，因為它們可使光纖聯結器內粘合劑溶解。(4)折射率與散射係數的校正：就光纖長度測量而言，折射係數每0.01的偏差會引起7m/km之多的誤差，對於較長的光線段，應採用光纜製造商提供的折射率值。(5)鬼影的識別與處理：
在OTDR曲線上的尖峰有時是由於離入射端較近且強的反射引起的迴音，這種尖峰被稱之為鬼影。識別鬼影：曲線上鬼影處未引起明顯損耗；沿曲線鬼影與始端的距離是強反射事件與始端距離的倍數，成對稱狀。消除鬼影：選擇短脈衝寬度、在強反射前端(如 OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位於光纖終結，可"打小彎"以衰減反射回始端的光。(6)正增益現象處理：
在OTDR曲線上可能會產生正增益現象。正增益是由於在熔接點之後的光纖比熔接點之前的光纖產生更多的後向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現在不同模場直徑或不同後向散射係數的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量並對結果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纜維護中，也可採用≤0.08dB即為合格的簡單原則。(7)附加光纖的使用：
附加光纖是一段用於連線OTDR與待測光纖、長300～2000m的光纖，其主要作用為：前端盲區處理和終端聯結器插入測量。 一般來說，OTDR與待測光纖間的聯結器引起的盲區最大。在光纖實際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區落在過渡光纖內，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩定區。光纖系統始端聯結器插入損耗可透過OTDR加一段過渡光纖來測量。如要測量首、尾兩端聯結器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。3 測試誤差的主要因素(1)OTDR測試儀表存在的固有偏差
由OTDR的測試原理可知，它是按一定的週期向被測光纖傳送光脈衝，再按一定的速率將來自光纖的背向散射訊號抽樣、量化、編碼後，儲存並顯示出來。 OTDR儀表本身由於抽樣間隔而存在誤差，這種固有偏差主要反映在距離分辯率上。OTDR的距離分辯率正比於抽樣頻率。
(2)測試儀表操作不當產生的誤差
在光纜故障定位測試時，OTDR儀表使用的正確性與障礙測試的準確性直接相關，儀表引數設定和準確性、儀表量程範圍的選擇不當或游標設定不準等都將導致測試結果的誤差。
(1)設定儀表的折射率偏差產生的誤差
不同型別和廠家的光纖的折射率是不同的。使用OTDR測試光纖長度時，必須先進行儀表引數設定，折射率的設定就是其中之一。當幾段光纜的折射率不同時可採用分段設定的方法，以減少因折射率設定誤差而造成的測試誤 差。
(2)量程範圍選擇不當
OTDR儀表測試距離分辯率為1米時，它是指圖形放大到水平刻度為25米/格時才能實現。儀表設計是以游標每移動25步為1滿格。在這種情況下，游標每移動一步，即表示移動1米的距離，所以讀出分辯率為1米。如果水平刻度選擇2公里/每格，則游標每移動一步，距離就會偏移80米。由此可見，測試時選擇的量程範圍越大，測試結果的偏差就越大。
(3)脈衝寬度選擇不當
在脈衝幅度相同的條件下，脈衝寬度越大，脈衝能量就越大，此時OTDR的動態範圍也越大，相應盲區也就大。
(4)平均化處理時間選擇不當
OTDR測試曲線是將每次輸出脈衝後的反射訊號取樣，並把多次取樣做平均處理以消除一些隨機事件，平均化時間越長，噪聲電平越接近最小值，動態範圍就越大。平均化時間越長，測試精度越高，但達到一定程度時精度不再提高。為了提高測試速度，縮短整體測試時間，一般測試時間可在0.5~3分鐘內選擇。
(5)游標位置放置不當
光纖活動聯結器、機械接頭和光纖中的斷裂都會引起損耗和反射，光纖末端的破裂端面由於末端端面的不規則性會產生各種菲涅爾反射峰或者不產生菲涅爾反射。如果游標設定不夠準確，也會產生一定誤差。