針尖增強拉曼散射(TERS)把表面增強拉曼光譜和拉曼-AFM分析結合了起來。這一令人激動的研究領域的目標是為拉曼分析提供真正的奈米尺度的空間解析度。 儘管TERS的原理很簡單，但是TERS的實際應用是很複雜的，需要具有相當的光譜學和光學專業知識。 表面增強拉曼散射(SERS)能夠使拉曼訊號強度增強幾個數量級。透過將原子力顯微鏡(AFM)的針尖包覆SERS活性金屬或金屬奈米粒子使其具有SERS活性，那麼SERS增強效應將可望只在針尖附近很小範圍發生。由於針尖的尺度一般都小於100 nm，所以這種測量的空間解析度也將相應地小於100 nm。 TERS實驗通常需要將激發鐳射束透過標準的顯微鏡物鏡聚焦，從而產生在衍射極限0.5 ~ 1.0微米範圍內尺寸的光斑(具體大小依賴於激發鐳射波長和所使用的物鏡);然後使具有SERS活性的針尖與鐳射光斑範圍內的樣品接觸。 這裡主要有兩種型別的拉曼散射過程: 1. 來自衍射極限0.5 ~ 1.0微米鐳射光斑範圍內的常規拉曼散射。 2. 來自針尖的表面增強拉曼散射(即針尖增強拉曼散射)。 由於SERS給出的拉曼強度增強可高達1014-1015倍，那麼如果要利用TERS成功實現奈米尺度的拉曼分析，則TERS強度必須達到或超過常規拉曼訊號強度。因為與常規拉曼分析相比，TERS所取樣的分子數目相應地也減少了幾個數量級，因此並非是對所有樣品一定能實現TERS強度超過常規拉曼訊號。