根據晶片說明書，可以用萬用表檢測引腳對地電阻。完全的晶片好壞檢測

級別I- 真實性檢驗（AIR） 概述： 透過化學腐蝕及物理顯微觀察等方法，來檢驗鑑定器件是否為原半導體廠商的器件。

級別II - 直流特性引數測試 （DCCT） 概述： 透過專用的IC測試機臺來測量記錄器件的直流特性引數，並比較分析器件的效能引數，又稱靜態度測試法。

級別III - 關鍵功能檢測驗證 （KFR） 概述： 根據原廠器件產品的說明或應用筆記（範例），或者終端客戶的應用電路，評估設計出可行性專用測試電路，透過外圍電路或埠，施加相應的有效激勵（訊號源）給輸入PIN腳，再透過外圍電路的調節控制、訊號放大或轉換匹配等，使用通用的測量儀器或指示形式，來檢測驗證器件的主要功能是否正常。

級別IV - 全部功能及特性引數測試 （FFCT） 概述： 根據原廠提供的測試向量或自己模擬編寫（比較艱難的過程）的測試向量，使用IC測試機臺來測試驗證器件的直流特性引數、器件的所有功能或工作執行的狀態，但不包括AC引數特性的驗證分析。換句話說，完全囊括了級別II和級別III的測試專案。

級別V 交流引數測試及分析 (ACCT) 概述： 在順利完成了級別V之後，且所有的測試專案都符合標準，為了進一步驗證器件訊號傳輸的特性引數，及邊沿特性、而進行AC引數的測試，（例如： Set-Up Time , Hold-On Time 等， 又如採用Shmoo Plote等工具來分析當一個變數隨著另一個變數變化而變化的特性曲線圖等。 完全包括了級別IV所能解決的問題和測試專案。

級別VI 特殊環境測試及分析 (SEAT) 概述： 在級別V測試中的各種測試專案都合格透過的前提下，再對器件做環境測試，包括高低溫度、高潮溼度、振動等特殊環境對器件電效能的影響。 附加檢驗測試的專案 級別EXI 無鉛檢測及成分分析(LFTA) EXI -A 準試條棒測試 僅僅檢測器件有害汙染成份是否超標。 EXI -B 材料分析成份 可準確地檢測分析出各種成份的含量及比率。

不知提問者是不是寫錯了IC的型號？將KA2206B誤寫為KA22068B。KA2206B是以前收錄機中較常用的一款雙聲道功放IC，想判斷其好壞，只要用萬用表測量其主要引腳的靜態電壓即可知道好壞。

KA2206B是一款雙聲道功放IC，其最高工作電壓為15V，典型工作電壓為9V，靜態電流40mA，在電源電壓為9V，RL為4Ω時，輸出功率為2.3Wx2。該功放IC在以前的行動式磁帶收錄機中較常用。上圖是KA2206B的典型應用電路圖，其12腳為電源正端，1腳為GND，5腳和8腳為左右聲道的輸入端，2腳和11腳為左右聲道輸出端。想判斷該IC的好壞，可用萬用表測量其兩個輸出端在靜態時的中點電壓。方法是，將兩個輸入端的音量電位器調至最小，然後用電壓表測量KA2206B輸出端2腳和11腳的電壓，若其是好的，這兩個引腳的電壓一般為IC供電電壓的二分之一。若測得的電壓偏離上述值很多，可能是IC或其外圍元件有問題所致。假設確認外圍元件沒問題，那就是IC內部電路有問題。KA2206B的外形見上圖，其採用雙列直插12腳封裝，由於該功放IC的功率較大，其兩側皆帶有散熱片，使用時應將散熱片焊接在PCB板的銅箔上（一般為接地的銅箔），這樣可以利用PCB板的銅箔來散熱。