類比電路引數種類眾多
1 資料採集器
實踐表明，採用機內測試技術能較大程度提高裝置的可靠性和可維修性。
目前，一些有高可靠性要求的類比電路也開始採用BIT技術。由於資料採集器中包含大量類比電路和數位電路，使得在這類裝置上採用BIT技術具有一定的難度。以邊界掃描BS(Boundary-Scan)為主的BIT設計技術在數位電路的檢測方面已經非常成熟，但其類比電路的測試還不是很完善，因為類比電路故障診斷存在以下一些難題：
(1) 類比電路引數種類眾多，而且元件引數存在容差，使得許多診斷方法失去了準確性和穩定性。
(2) 類比電路的多樣性以及電引數模擬困難造成模擬的模型適應性有限。
(3) 為保證類比電路的精度，通常只有少量可及埠和節點可以測量，故障診斷的資訊量不夠，造成故障定位的不確定性和模糊性。
(4) 類比電路故障種類眾多，原因複雜，易出現新型別未記錄的故障。
資料採集器的類比電路在檢測過程中除了需要考慮上述的因素外，還要關注其放大器的增益精度、輸入噪聲水平、零點飄移、共模抑制比、建起時間、頻率響應等採集器的效能引數。
2 資料採集器模擬部分自檢測原理
2.1 資料採集器模擬部分的結構和易發故障分析
資料採集器是對多路模擬電壓訊號進行測量、轉換的電子裝置，是模擬、數位電路的混合產品。其模擬部分的基本組成可分為：多路開關、可程式設計放大器(PGA)、共模抑制電路、低通濾波電路和A／D轉換等幾個部分。
其中可程式設計放大器容易出現的故障有零點漂移、增益誤差、共模抑制比下降等。隨著時間和工作環境的變化，電路元件自身的一些特性也會發生變化，可能導致上述故障的出現，而這些故障對資料採集器的測量精度會造成很大影響。
濾波器的元件引數變化會導致濾波器頻率特性發生變化，同時在時域上也會對電路的建起時間產生不利的影響，從而影響了資料採集器的精度。因此為了保證測量資料的精度應及時對這些故障進行檢測。
下面對典型資料採集器中用到的PGA、共模抑制電路和低通濾波器進行分析，按功能模組提出了測量原理和測量方案。為了減少對被測電路的影響，測試向量在多路開關輸入端注入。由於多故障情況較為複雜，本文只討論單故障情形。圖2為典型的資料採集器模擬部分的原理圖。
類比電路引數種類眾多
1 資料採集器
實踐表明，採用機內測試技術能較大程度提高裝置的可靠性和可維修性。
目前，一些有高可靠性要求的類比電路也開始採用BIT技術。由於資料採集器中包含大量類比電路和數位電路，使得在這類裝置上採用BIT技術具有一定的難度。以邊界掃描BS(Boundary-Scan)為主的BIT設計技術在數位電路的檢測方面已經非常成熟，但其類比電路的測試還不是很完善，因為類比電路故障診斷存在以下一些難題：
(1) 類比電路引數種類眾多，而且元件引數存在容差，使得許多診斷方法失去了準確性和穩定性。
(2) 類比電路的多樣性以及電引數模擬困難造成模擬的模型適應性有限。
(3) 為保證類比電路的精度，通常只有少量可及埠和節點可以測量，故障診斷的資訊量不夠，造成故障定位的不確定性和模糊性。
(4) 類比電路故障種類眾多，原因複雜，易出現新型別未記錄的故障。
資料採集器的類比電路在檢測過程中除了需要考慮上述的因素外，還要關注其放大器的增益精度、輸入噪聲水平、零點飄移、共模抑制比、建起時間、頻率響應等採集器的效能引數。
2 資料採集器模擬部分自檢測原理
2.1 資料採集器模擬部分的結構和易發故障分析
資料採集器是對多路模擬電壓訊號進行測量、轉換的電子裝置，是模擬、數位電路的混合產品。其模擬部分的基本組成可分為：多路開關、可程式設計放大器(PGA)、共模抑制電路、低通濾波電路和A／D轉換等幾個部分。
其中可程式設計放大器容易出現的故障有零點漂移、增益誤差、共模抑制比下降等。隨著時間和工作環境的變化，電路元件自身的一些特性也會發生變化，可能導致上述故障的出現，而這些故障對資料採集器的測量精度會造成很大影響。
濾波器的元件引數變化會導致濾波器頻率特性發生變化，同時在時域上也會對電路的建起時間產生不利的影響，從而影響了資料採集器的精度。因此為了保證測量資料的精度應及時對這些故障進行檢測。
下面對典型資料採集器中用到的PGA、共模抑制電路和低通濾波器進行分析，按功能模組提出了測量原理和測量方案。為了減少對被測電路的影響，測試向量在多路開關輸入端注入。由於多故障情況較為複雜，本文只討論單故障情形。圖2為典型的資料採集器模擬部分的原理圖。