一塊GPU晶片上有幾十億個電晶體。

但這幾十億個電晶體並非每一個都完美無瑕。

總有一些電晶體（雖然加電）但無法正常工作的。

但這樣一來，這些晶片就有功能上的缺陷或效能上的差異了，這對於廠商來說，是件非常難以接受的事。

不過晶片工程師總會再想出辦法來消除這些差異。

比如，設計“冗餘電路”。

當一個電晶體異常時，就會在備用區域啟用一個新的電晶體用來代替它的功能。

這樣一來，只要一塊晶片，瑕疵電晶體數量在一定數量之內，對其效能、功能就完全無影響。

但是，如果瑕疵電晶體數量（噪點數量）比較多，晶片本身功耗會略大一點點（畢竟有更多的瑕疵電晶體只耗電，不幹活）。實測，在完全相同的環境下，兩片完全一樣不同體質的卡，功耗大約有1-3W左右的差距，溫度約有1度左右的差距。另外，N卡由於階梯BOOST頻率，可能在一些理論測試（比如3DMARK）會有1%左右效能差距（實際遊戲中，由於很少讓GPU長時間滿載，體質差異幾乎無法表現出任何差別）。因此，噪點數量偏高的晶片被稱作“體質差”，或用更行業點的話說，叫“漏電率更高”的晶片，而相對的另一些則是“體質好”的晶片。

通常來說，從一整塊晶圓中心部份切割出來的晶片，更容更得到“體質好”的晶片。

當然，GPU-Z中的ASIC Quality並不是直接顯示出晶片的噪點百分比（真要這麼高，AMD和NV會哭瞎在廁所）。而是NV或AMD對自家晶片進行評估（包括超頻能力、能耗、加電壓等幾個指標）後，直接寫入GPU的暫存器中的參考數值。而GPU-Z只是將暫存器中的資料讀出。可以說從一定程度上能夠反映GPU的體質資訊。當然，具體評估的方法仍然以加電資料，根據一定的演算法來做“預測”，因為即便NV和AMD也沒法數清每一顆晶片具體有多少個瑕疵點（要有多無聊才會去數啊）。So......因為NV和AMD本身對這個數值就抱有不確定性，所以該選項並未被直接命名為“晶片體質”或“漏電率”，而使用了ASIC Quality這種含義上相對模糊的名稱。

實際上，個人認識的極限超頻比賽選手也沒有說過會刻意透過ASIC Quality去挑“體質好”的晶片——當然，他們同廠商合作時肯定也會挑卡，但更多是來靠實際超頻頻率，而非GPU-Z來挑卡（一般會多備兩片卡供他們換用）。個人也曾見過不少“體質差”的晶片（無論在風冷還是液氮下）超到更高頻率的案例。

如果是普通使用者，不是那麼糾結於超頻這種問題的話，這個數值幾乎沒什麼意義。更不會影響使用。