電阻率法測井—根據岩石導電能力的差異，在鑽孔中研究岩層性質和區分它們的一套測井方法。它包括普通電極系電阻率法測井，微電極系測井，側向測井，感應測井等方法。
電阻率法測井的物理依據—石油和水的電阻率相差很大，同樣的儲雜層，含油時比含水時電阻率要高。
1.自然電位曲線
判斷巖性，確定滲透性地層
自然電位主要是離子在岩石中的擴散吸附作用產生的，而岩石的擴散吸附作用與岩石的成分、組織結構、膠結物成分及含量有密切的關係，所以可根據自然曲線的變化判斷巖性和分析巖性的變化。
砂岩隨著巖性由粗變細 逐漸變成了泥岩
另外，自然電位曲線異常幅度的大小，可以反映地層滲透性的好壞，通常砂岩的滲透性與泥質含量有關，泥質含量越少其滲透性越好，自然電位曲線異常幅度值越大。
計算地層水電阻率。
估計地層的泥質含量。
判斷水淹層位
2.側向測井
為了評價含油性，必須較準確的求出地層的電阻率，再地層厚度較大，地層電阻率和泥漿電阻率相差不太懸殊的情況下，可以採用普通電極系測井來求地層電阻率，但在地層較薄電阻率很高，或者在鹽水泥漿的情況下，由於泥漿電阻率很低，使得電極流出的電流大部分都在井內和圍巖中流過，進入測量層的電流很少。因此測量的視電阻率曲線變化平緩，不能用來劃分地層，判斷巖性。另外，在沙泥岩互動層地區，高阻臨層對普通電極系的遮蔽影響很大，使其難以求出地層真電阻率。
為解決上述的問題，就出現了帶有聚焦電極的側向測井，它能使主電流成一定厚度的平板狀電流束，垂直進入地層，使井的分流作用和圍巖的影響大大減少。側向測井開始為三側向測井，後來研製了七側向，現今已發展了雙側向測井，雙側向測井-微球形聚焦測井已成為鹽水泥漿和高電阻率地層剖面的必測專案。
微球形聚焦測井一般與雙側向組合成一種綜合下井儀器。一次下井能提供以下曲線：
深側向測井電阻率(RLLd)曲線
淺側向測井電阻率(RLLs)曲線
微球形聚焦測井電阻率(RMSFL)曲線、井徑曲線
自然電位曲線
泥餅厚度
3.感應測井
前面所討論的各種電阻率測井方法，都需要井內有導電的液體，使供電電極的電流透過它進入地層，在井周圍地層中形成直流電場，然後測量電場的分佈，得出地層的電阻率。這些方法只能用於導電效能較好的泥漿中，但有時為了獲得地層原始含油飽和度資料，在個別的井中，需用油基泥漿鑽井，有時還採用空氣鑽井，在這樣的條件下，井內沒有導電介質，不能使用直流電法測井。為了解決這一問題，根據電磁感應原理，提出了感應測井。
感應測井的主要任務是確定岩石電導率。感應測井的線圈雖然有縱向和徑向的聚焦作用，受圍巖、泥漿和侵入帶的影響較小，但這些影響並未完全消除，為了求得較準的地層電導率，需要對視電導率進行井眼校正、傳播效應校正、圍巖校正和侵入帶校正。
4.陣列感應電阻率測井
陣列感應測井儀(AIT、HDIL)使用多個感應線圈陣列，可在多個頻率下工作，透過計算機對採集到的訊號進行趨膚校正、井眼環境校正、傾角影響及圍巖影響校正、真高解析度聚焦和垂直解析度匹配技術等，可以得到1、2、4英尺三種縱向解析度和5（AIT）—6（HDIL）種不同徑向探測深度的地層電阻率曲線；運用一維和二維反演技術，透過多條不同探測深度的電阻率曲線反演出地層真電阻率RT、沖洗帶電阻率RXO以及使用新的侵入描述引數四引數反演程式得到侵入內徑R1和侵入外徑R2來描述泥漿侵入狀況，對儲層進行徑向侵入特徵的定量評價。
陣列感應測井則能提供1、2、4ft共3種解析度，10、20、30、60、90in、（120in）等5（6）個不同探測深度共15（18）條測井曲線，利用不同不同探測深度電阻率的變化，分析儲層侵入特徵，並提供相對準確的侵入半徑。
電阻率法測井—根據岩石導電能力的差異，在鑽孔中研究岩層性質和區分它們的一套測井方法。它包括普通電極系電阻率法測井，微電極系測井，側向測井，感應測井等方法。
電阻率法測井的物理依據—石油和水的電阻率相差很大，同樣的儲雜層，含油時比含水時電阻率要高。
1.自然電位曲線
判斷巖性，確定滲透性地層
自然電位主要是離子在岩石中的擴散吸附作用產生的，而岩石的擴散吸附作用與岩石的成分、組織結構、膠結物成分及含量有密切的關係，所以可根據自然曲線的變化判斷巖性和分析巖性的變化。
砂岩隨著巖性由粗變細 逐漸變成了泥岩
另外，自然電位曲線異常幅度的大小，可以反映地層滲透性的好壞，通常砂岩的滲透性與泥質含量有關，泥質含量越少其滲透性越好，自然電位曲線異常幅度值越大。
計算地層水電阻率。
估計地層的泥質含量。
判斷水淹層位
2.側向測井
為了評價含油性，必須較準確的求出地層的電阻率，再地層厚度較大，地層電阻率和泥漿電阻率相差不太懸殊的情況下，可以採用普通電極系測井來求地層電阻率，但在地層較薄電阻率很高，或者在鹽水泥漿的情況下，由於泥漿電阻率很低，使得電極流出的電流大部分都在井內和圍巖中流過，進入測量層的電流很少。因此測量的視電阻率曲線變化平緩，不能用來劃分地層，判斷巖性。另外，在沙泥岩互動層地區，高阻臨層對普通電極系的遮蔽影響很大，使其難以求出地層真電阻率。
為解決上述的問題，就出現了帶有聚焦電極的側向測井，它能使主電流成一定厚度的平板狀電流束，垂直進入地層，使井的分流作用和圍巖的影響大大減少。側向測井開始為三側向測井，後來研製了七側向，現今已發展了雙側向測井，雙側向測井-微球形聚焦測井已成為鹽水泥漿和高電阻率地層剖面的必測專案。
微球形聚焦測井一般與雙側向組合成一種綜合下井儀器。一次下井能提供以下曲線：
深側向測井電阻率(RLLd)曲線
淺側向測井電阻率(RLLs)曲線
微球形聚焦測井電阻率(RMSFL)曲線、井徑曲線
自然電位曲線
泥餅厚度
3.感應測井
前面所討論的各種電阻率測井方法，都需要井內有導電的液體，使供電電極的電流透過它進入地層，在井周圍地層中形成直流電場，然後測量電場的分佈，得出地層的電阻率。這些方法只能用於導電效能較好的泥漿中，但有時為了獲得地層原始含油飽和度資料，在個別的井中，需用油基泥漿鑽井，有時還採用空氣鑽井，在這樣的條件下，井內沒有導電介質，不能使用直流電法測井。為了解決這一問題，根據電磁感應原理，提出了感應測井。
感應測井的主要任務是確定岩石電導率。感應測井的線圈雖然有縱向和徑向的聚焦作用，受圍巖、泥漿和侵入帶的影響較小，但這些影響並未完全消除，為了求得較準的地層電導率，需要對視電導率進行井眼校正、傳播效應校正、圍巖校正和侵入帶校正。
4.陣列感應電阻率測井
陣列感應測井儀(AIT、HDIL)使用多個感應線圈陣列，可在多個頻率下工作，透過計算機對採集到的訊號進行趨膚校正、井眼環境校正、傾角影響及圍巖影響校正、真高解析度聚焦和垂直解析度匹配技術等，可以得到1、2、4英尺三種縱向解析度和5（AIT）—6（HDIL）種不同徑向探測深度的地層電阻率曲線；運用一維和二維反演技術，透過多條不同探測深度的電阻率曲線反演出地層真電阻率RT、沖洗帶電阻率RXO以及使用新的侵入描述引數四引數反演程式得到侵入內徑R1和侵入外徑R2來描述泥漿侵入狀況，對儲層進行徑向侵入特徵的定量評價。
陣列感應測井則能提供1、2、4ft共3種解析度，10、20、30、60、90in、（120in）等5（6）個不同探測深度共15（18）條測井曲線，利用不同不同探測深度電阻率的變化，分析儲層侵入特徵，並提供相對準確的侵入半徑。