這項技術的應用，有望幫助科學家們更好地理解電池和微晶片元件中的狀況，實現更好的損傷控制與防護。

這臺探測器能夠在原子尺度上記錄影象和發現缺陷，速度是當前裝置的 60 倍。

【升級後的透射電子像差校正顯微鏡 / TEAM 0.5】

這臺探測器被稱作“4D 攝像機”，每分鐘可輸出大約 4TB 資料，使得科學家能夠回顧事件的全貌，而不僅僅是一張張靜態的影象。

【4D 超高速檢測器的核心元件，圖自：Berkeley Lab】

來自伯克利實驗室分子鑄造廠、科學家之一的 Peter Ercius 表示 —— 其資料量相當於同時觀看約 6 萬部高畫質電影。

【A New Detector – the 4D Camera】

為處理如此大的資料，需要團隊在顯微鏡和超級計算機之間建立一個強大的網路，才能讓科學家記錄和回顧實驗過程中的每一個電子的變化。

【左起為 Ian Johnson、Jim Ciston、Peter Denes 和 Peter Ercius】

科學家 Jim Ciston 表示 —— 透過這個龐大的資料集，我們能夠對樣本進行‘虛擬’實驗，而無需返回並從不同的成像條件中獲取新資料。