計算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]1、雙側規格過程能力指數雙側規格計算公式雙側規格情形的過程能力指數，這時，過程能力指數CP的計算公式如下：式中，T為過程統計量的技術規格的公差幅度；TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標準差，可以在過程處於穩態時得到。2、有偏移情形有偏移情形的過程能力指數：當過程統計量的分佈均值μ與公差中心M不重合（即有偏移）時，如圖1所示，顯然不合格率（如圖上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所計算的過程能力指數不能反映有偏移的實際情形，需要加以修正。定義分佈的總體均值μ與公差中心M的偏移為ε=|M-μ|，μ與M的偏移度為K：這樣，當μ=M（即分佈中心與公差中心重合，無偏移）時，K=0，則CPK=CP；而當μ=TU或μ=TL時，K=1，CPK=0，表示過程能力由於偏移而嚴重不足，需要採取措施加以糾正。顯然，具有：有偏移情況的過程能力指數CPKCPK≤CP應用1、當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。2、計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。3、計算Cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；5、依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程準確度：Ca值 (x為所有取樣資料的平均值)6、依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值7、依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值8、Cpk的評級標準：（可據此標準對計算出之製程能力指數做相應對策）A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低A+ 級 2.0 > Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級B 級 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級C 級 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力D 級 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。