回答：ic晶片用途及作用-ic晶片的分類-如何判斷ic晶片的好壞
什麼是ic晶片？
本文講ic晶片用途是什麼？什麼是ic晶片？如何判斷ic晶片的好壞？IC晶片(Integrated Circuit Chip)是將大量的微電子元器件（電晶體、電阻、電容等）形成的積體電路放在一塊塑基上，做成一塊晶片。IC晶片包含晶圓晶片和封裝晶片，相應 IC 晶片生產線由晶圓生產線和封裝生產線兩部分組成。
ic晶片的分類有哪些
ic晶片的產品分類可以有下面分類方法:
（一）積體電路的種類一般是以內含電晶體等電子元件的數量來分類
SSI(小型積體電路)，電晶體數10～100個
MSI(中型積體電路)，電晶體數100～1000個
LSI(大規模積體電路)，電晶體數1000～100000
VLSI(超大規模積體電路)，電晶體數100000以上。
（二）按功能結構分類
積體電路按其功能、結構的不同，可以分為模擬積體電路和數字積體電路兩大類。
（三）按製作工藝分類
積體電路按製作工藝可分為半導體積體電路和膜積體電路。膜積體電路又分類厚膜積體電路和薄膜積體電路。
（四）按導電型別不同分類
積體電路按導電型別可分為雙極型積體電路和單極型積體電路。雙極型積體電路的製作工藝複雜，功耗較大，代表積體電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等型別。
單極型積體電路的製作工藝簡單，功耗也較低，易於製成大規模積體電路，代表積體電路有CMOS、NMOS、PMOS等型別。
（五）按ic晶片用途分類
積體電路按用途可分為電視機用積體電路。音響用積體電路、影碟機用積體電路、錄影機用積體電路、電腦(微機)用積體電路、電子琴用積體電路、通訊用積體電路、照相機用積體電路、遙控積體電路、語言積體電路、報警器用積體電路及各種專用積體電路。
ic晶片用途及作用
1、ic晶片用途-減少元器件的使用
積體電路的誕生，小規模的積體電路使內容元器件的數量減少，在零散元器件上有了很大的技術提高。
2、ic晶片用途-產品效能得到有效提高
將元器件都集合到了一起，不僅減少了外電訊號的干擾，也在電路設計方面有了很大的提升，提高了執行速度。
3、ic晶片用途-更加方便應用
一種功能對應一種電路，將一種功能集中成一個積體電路，如此一來，在以後應用中，要什麼功能就可以應用相應的積體電路，從而大大方便了應用。
積體電路是一種微型電子器件或部件。採用一定的工藝，把一個電路中所需的電晶體、二極體、電阻、電容和電感等元件及佈線互連一起，製作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然後封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它的英文（integrated circuit）用字母“IC”表示。積體電路技術包括晶片製造技術與設計技術，主要體現在加工裝置，加工工藝，封裝測試，批次生產及設計創新的能力上。
如何判斷ic晶片的好壞
一、不在路檢測
這種方法是在ic未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應於接地引腳之間的正、反向電阻值，並和完好的ic進行比較。
二、在路檢測
這是一種透過萬用表檢測IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的侷限性和拆卸IC的麻煩，是檢測IC最常用和實用的方法。
直流工作電壓測量
這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量；檢測IC各引腳對地直流電壓值，並與正常值相比較，進而壓縮故障範圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下8點：
(1)萬用表要有足夠大的內阻， 少要大於被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。
(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，訊號源要採用標準彩條訊號發生器。
（3）表筆或探頭要採取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可採取如下方法防止表筆滑動：取一段腳踏車用氣門芯套在表筆尖上，並長出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點也不會短路。
(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時，應根據該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析， 能判斷ic的好壞。
(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當外圍元器件發生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連線的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發生變化。
(6)若ic各引腳電壓正常，則一般認為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則ic很可能損壞。
(7)對於動態接收裝置，如電視機，在有無訊號時,ic各引腳電壓是不同的。如發現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨訊號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。
(8)對於多種工作方式的裝置，如錄影機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。
交流工作電壓測量法
為了掌握ic交流訊號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置於交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對於無ｄｂ插孔的萬用表，需要在正表筆串接一隻0.1～0.5μｆ隔直電容。該法適用於工作頻率較低的ic，如電視機的影片放大級、場掃描電路等。由於這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的資料是近似值，只能供參考。
總電流測量法
該法是透過檢測IC電源進線的總電流，來判IC好壞的一種方法。由於IC內部絕大多數為直接耦合，IC損壞時（如某一個pn結擊穿或開路）會引起後級飽和與截止，使總電流發生變化。所以透過測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。
回答：ic晶片用途及作用-ic晶片的分類-如何判斷ic晶片的好壞
什麼是ic晶片？
本文講ic晶片用途是什麼？什麼是ic晶片？如何判斷ic晶片的好壞？IC晶片(Integrated Circuit Chip)是將大量的微電子元器件（電晶體、電阻、電容等）形成的積體電路放在一塊塑基上，做成一塊晶片。IC晶片包含晶圓晶片和封裝晶片，相應 IC 晶片生產線由晶圓生產線和封裝生產線兩部分組成。
ic晶片的分類有哪些
ic晶片的產品分類可以有下面分類方法:
（一）積體電路的種類一般是以內含電晶體等電子元件的數量來分類
SSI(小型積體電路)，電晶體數10～100個
MSI(中型積體電路)，電晶體數100～1000個
LSI(大規模積體電路)，電晶體數1000～100000
VLSI(超大規模積體電路)，電晶體數100000以上。
（二）按功能結構分類
積體電路按其功能、結構的不同，可以分為模擬積體電路和數字積體電路兩大類。
（三）按製作工藝分類
積體電路按製作工藝可分為半導體積體電路和膜積體電路。膜積體電路又分類厚膜積體電路和薄膜積體電路。
（四）按導電型別不同分類
積體電路按導電型別可分為雙極型積體電路和單極型積體電路。雙極型積體電路的製作工藝複雜，功耗較大，代表積體電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等型別。
單極型積體電路的製作工藝簡單，功耗也較低，易於製成大規模積體電路，代表積體電路有CMOS、NMOS、PMOS等型別。
（五）按ic晶片用途分類
積體電路按用途可分為電視機用積體電路。音響用積體電路、影碟機用積體電路、錄影機用積體電路、電腦(微機)用積體電路、電子琴用積體電路、通訊用積體電路、照相機用積體電路、遙控積體電路、語言積體電路、報警器用積體電路及各種專用積體電路。
ic晶片用途及作用
1、ic晶片用途-減少元器件的使用
積體電路的誕生，小規模的積體電路使內容元器件的數量減少，在零散元器件上有了很大的技術提高。
2、ic晶片用途-產品效能得到有效提高
將元器件都集合到了一起，不僅減少了外電訊號的干擾，也在電路設計方面有了很大的提升，提高了執行速度。
3、ic晶片用途-更加方便應用
一種功能對應一種電路，將一種功能集中成一個積體電路，如此一來，在以後應用中，要什麼功能就可以應用相應的積體電路，從而大大方便了應用。
積體電路是一種微型電子器件或部件。採用一定的工藝，把一個電路中所需的電晶體、二極體、電阻、電容和電感等元件及佈線互連一起，製作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然後封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它的英文（integrated circuit）用字母“IC”表示。積體電路技術包括晶片製造技術與設計技術，主要體現在加工裝置，加工工藝，封裝測試，批次生產及設計創新的能力上。
如何判斷ic晶片的好壞
一、不在路檢測
這種方法是在ic未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應於接地引腳之間的正、反向電阻值，並和完好的ic進行比較。
二、在路檢測
這是一種透過萬用表檢測IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的侷限性和拆卸IC的麻煩，是檢測IC最常用和實用的方法。
直流工作電壓測量
這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量；檢測IC各引腳對地直流電壓值，並與正常值相比較，進而壓縮故障範圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下8點：
(1)萬用表要有足夠大的內阻， 少要大於被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。
(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，訊號源要採用標準彩條訊號發生器。
（3）表筆或探頭要採取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可採取如下方法防止表筆滑動：取一段腳踏車用氣門芯套在表筆尖上，並長出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點也不會短路。
(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時，應根據該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析， 能判斷ic的好壞。
(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當外圍元器件發生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連線的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發生變化。
(6)若ic各引腳電壓正常，則一般認為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則ic很可能損壞。
(7)對於動態接收裝置，如電視機，在有無訊號時,ic各引腳電壓是不同的。如發現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨訊號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。
(8)對於多種工作方式的裝置，如錄影機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。
交流工作電壓測量法
為了掌握ic交流訊號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置於交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對於無ｄｂ插孔的萬用表，需要在正表筆串接一隻0.1～0.5μｆ隔直電容。該法適用於工作頻率較低的ic，如電視機的影片放大級、場掃描電路等。由於這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的資料是近似值，只能供參考。
總電流測量法
該法是透過檢測IC電源進線的總電流，來判IC好壞的一種方法。由於IC內部絕大多數為直接耦合，IC損壞時（如某一個pn結擊穿或開路）會引起後級飽和與截止，使總電流發生變化。所以透過測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。