實驗 11邁克爾遜干涉儀測光波波長
1.邁克爾遜干涉形成的等傾干涉條紋的條件、條紋的特點、條紋出現的位置和測量波長的公式。比較等傾干涉條紋和牛頓環（等厚干涉）異同。 提示：
（1）邁克爾遜干涉形成等傾干涉條紋的條件：①M1、M 2（M2在 M1鏡附近的虛像）兩反射鏡互相平行。②產生干涉的兩束光應是相干光，且光程差要滿足明暗條紋條件；
（2）條紋的特點包括條紋形狀、條紋分佈，條紋級數、條紋屬性（等傾還是等厚）以及條紋的變化；
（3）條紋出現的位置是指條紋所在位置。（邁克爾遜干涉用的光源是光纖鐳射（點光源）條紋出現的位置是在兩虛光源發出的兩相干光相遇的範圍，是非定域的，等厚干涉用的光源是面光源鈉光，條紋出現的位置在牛頓環裝置表面附近，是定域的）。
（4）實驗測量波長公式：（△N為條紋變化（冒出或陷入）條數，
△h為M1、M2鏡間的空氣薄膜厚度的變化）。
（5）用邁克爾遜干涉儀觀察到的等傾干涉條紋與牛頓環的干涉條紋異同：二者雖然都是中間疏邊緣密明暗相間的同心圓條紋，但牛頓環屬於等厚干涉的結果，並且等傾干涉條紋中心級次高，而牛頓環則是邊緣的干涉級次高，所以當增大（或減小）空氣層厚度時，等傾干涉條紋會向外湧出（或向中心縮排），而牛頓環則會向中心縮排（或向外湧出）。
實驗 11邁克爾遜干涉儀測光波波長
1.邁克爾遜干涉形成的等傾干涉條紋的條件、條紋的特點、條紋出現的位置和測量波長的公式。比較等傾干涉條紋和牛頓環（等厚干涉）異同。 提示：
（1）邁克爾遜干涉形成等傾干涉條紋的條件：①M1、M 2（M2在 M1鏡附近的虛像）兩反射鏡互相平行。②產生干涉的兩束光應是相干光，且光程差要滿足明暗條紋條件；
（2）條紋的特點包括條紋形狀、條紋分佈，條紋級數、條紋屬性（等傾還是等厚）以及條紋的變化；
（3）條紋出現的位置是指條紋所在位置。（邁克爾遜干涉用的光源是光纖鐳射（點光源）條紋出現的位置是在兩虛光源發出的兩相干光相遇的範圍，是非定域的，等厚干涉用的光源是面光源鈉光，條紋出現的位置在牛頓環裝置表面附近，是定域的）。
（4）實驗測量波長公式：（△N為條紋變化（冒出或陷入）條數，
△h為M1、M2鏡間的空氣薄膜厚度的變化）。
（5）用邁克爾遜干涉儀觀察到的等傾干涉條紋與牛頓環的干涉條紋異同：二者雖然都是中間疏邊緣密明暗相間的同心圓條紋，但牛頓環屬於等厚干涉的結果，並且等傾干涉條紋中心級次高，而牛頓環則是邊緣的干涉級次高，所以當增大（或減小）空氣層厚度時，等傾干涉條紋會向外湧出（或向中心縮排），而牛頓環則會向中心縮排（或向外湧出）。