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    規範曲線法:最常用的定量辦法具體做法:選用相同的處理方式製造一系列已知濃度(c1<c2<…<cn)規範溶液和待測試樣(cx),並確保c1<cx<cn,在相同的條件下別離測定相應的訊號規範參加法:在試樣比較雜亂的時分使用具體做法:將小體積Vs而大濃度cs的待測組分規範溶液參加到必定體積的試樣溶液傍邊,別離測定參加前後的訊號,然後求出cx理論上來說規範參加法和規範曲線法做出來的成果應當是相同的。規範參加法一般在樣品量少時使用,而規範曲線法適用範圍相對較廣。當很難裝備與樣品溶液類似的規範溶液,或樣品基體成分很高,並且改變不定或樣品中含有固體物質而對吸收的影響難以保持必守時,選用規範參加法對錯常有用的。將必定量已知濃度的規範溶液參加待測樣品中,測定參加前後樣品的濃度。參加規範溶液後的濃度將比參加前的高,其新增的量應等於參加的規範溶液中所含的待測物質的量。假如樣品中存在攪擾物質,則濃度的新增值將小於或大於理論值。規範曲線法適用於規範曲線的基體和樣品的基體大致相同的狀況,長處是速度快,缺陷是當樣品基體雜亂時不正確。規範參加法能夠有用戰勝上面所說的缺陷,由於他是把樣品和規範混在一同一起測定的(“規範參加法”的叫法就是從這裡來的)。規範曲線法又稱校準曲線法,做法是將貯備規範液稀釋為所需求的規範系列,用零濃度調儀器零點後,順次由低到高濃度丈量規範液的吸光度(或峰高、面積),一起測定樣品和樣品空白的吸光度(或峰高、面積),在座標紙上以規範液濃度為橫座標,對應的吸光度為縱座標,製作規範曲線。它一般適用於已知樣品的基本成分和規範液的基本成分相挨近的樣品。 規範參加法是別離在數份相同體積樣品液中參加不等量的規範液,必定要有一份相同體積樣品液中參加 的規範液為零,按照上面製作規範曲線的過程丈量吸光度(或峰高、面積),在座標紙上以參加的規範液濃度為橫座標,對應的吸光度為縱座標,製作規範曲線,用外推法(延伸規範曲線和橫座標相交的數的絕對值)就可得到樣品液濃度。它一般適用於組份較雜亂的不知道樣品,能消除一些基本成份對測定的攪擾,但對測定的不知道成分含量要大略估量一下,參加的規範液要和樣品液濃度挨近,

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