高層建築物如何使建築物垂直
1 控制的精度要求
垂直度控制的精度嚴格按照《高層建築結構技術規程(JGJ3-2002)》要求，高層建築軸線豎向投側允許偏差：每層允許3mm;總高允許不大於H/1000且≤30mm（H為建築物總高）.
2 垂直度的控制方式和儀器選擇
2.1 控制方式
某高層建築由地下結構、裙樓和主樓組成。結構形式是框架剪力牆結構。高層建築垂直度一般可採用內控法和外控法，由於施工現場環境複雜，建築稠密，場地狹小等因素，加上外架採用懸挑腳手架，安全密目網封閉，所以高層建築垂直度測設一般多采用內控法。
2.2 測量儀器
高層建築垂直度測量選用光學經緯儀，測角值讀至1″、估讀至0.1″，光學鉛垂儀WILD.ZNL,標準偏差1/3000 。
3 控制網的佈設
以規劃局提供的建築物的角點座標為基線，用光學經緯儀引至建築外固定位置，做好標記和保護，作為地下結構測量和上部結構垂直度測量首級控制點。地下結構測量採用光學經緯儀測設，普通重錘法校核。±0層結構完成後，透過首級控制點，把軸線定位到樓面上（也可設在2層或轉換層上），根據建築物的情況，在平面上找出3-4個合理的上投控制點。一般選擇在距離軸線500-800mm處的混凝土板上，這樣便於留孔和進行上投傳遞。控制標誌採用鋼筋加工製成，埋設到樓面內，上面加蓋保護。
4 垂直度控制要點
4.1 傳遞孔設定
在上投控制點上層混凝土頂板內預留200 mm*200mm孔洞，在孔洞四周做好上翻50mm的防水圈（可砌磚），平時孔洞處需蓋好板，保證安全。
4.2 投測的技術要領
每次投測時，應將鐳射經緯儀仔細對中，嚴格整平，然後接通鐳射電源，使鐳射器起輝即可發射鉛直的鐳射束。與此同時，在所測設層的樓板預留孔放置300mm的有機玻璃板，鐳射鉛垂儀發出的鐳射束在靶上形成一個小圓形光斑，透過調整發射器的焦距，使靶標上鐳射光斑到最小。為清除鐳射經緯儀本身對測量精度的影響，投測後，將儀器在水平方向作360。迴轉，這時在靶標上出現光斑移動的圓形軌跡（如儀器本身沒有缺陷，則光斑始終如一）。其圓形的圓t2,對準靶標的十字線交點，用細鉛筆跟蹤在靶標上描繪出圓形軌跡圖，這時圓形的圓心即為豎向傳遞點。
4.3 分段測量
為了提高功效和防止鐳射束點的誤差，顧及儀器效能條件和施工環境的影響，縮短投影測程，採取分段控制，分段投點的方式，以豎向60-120m為一段。當第一段施工完畢，此段首層控制點的點位精確地投至上一段的起始樓層上，並進行控制網的檢測與校正，確認控制點準確無誤後，重新埋點。這相當於將下端首層的控制網升至此段首層並鎖定，作為上段各層的投測依據。
4.4 校核
4.4.1 每段垂直度校核
每投測段施工完畢後，採用1mm鋼絲、15kg鉛錘人工投點進行對比校核。
4.4.2 總垂直度校核
每投測段施工完畢後，在首級控制點上架好光至最高的結構層，與控制線進行校核。
高層建築物如何使建築物垂直
1 控制的精度要求
垂直度控制的精度嚴格按照《高層建築結構技術規程(JGJ3-2002)》要求，高層建築軸線豎向投側允許偏差：每層允許3mm;總高允許不大於H/1000且≤30mm（H為建築物總高）.
2 垂直度的控制方式和儀器選擇
2.1 控制方式
某高層建築由地下結構、裙樓和主樓組成。結構形式是框架剪力牆結構。高層建築垂直度一般可採用內控法和外控法，由於施工現場環境複雜，建築稠密，場地狹小等因素，加上外架採用懸挑腳手架，安全密目網封閉，所以高層建築垂直度測設一般多采用內控法。
2.2 測量儀器
高層建築垂直度測量選用光學經緯儀，測角值讀至1″、估讀至0.1″，光學鉛垂儀WILD.ZNL,標準偏差1/3000 。
3 控制網的佈設
以規劃局提供的建築物的角點座標為基線，用光學經緯儀引至建築外固定位置，做好標記和保護，作為地下結構測量和上部結構垂直度測量首級控制點。地下結構測量採用光學經緯儀測設，普通重錘法校核。±0層結構完成後，透過首級控制點，把軸線定位到樓面上（也可設在2層或轉換層上），根據建築物的情況，在平面上找出3-4個合理的上投控制點。一般選擇在距離軸線500-800mm處的混凝土板上，這樣便於留孔和進行上投傳遞。控制標誌採用鋼筋加工製成，埋設到樓面內，上面加蓋保護。
4 垂直度控制要點
4.1 傳遞孔設定
在上投控制點上層混凝土頂板內預留200 mm*200mm孔洞，在孔洞四周做好上翻50mm的防水圈（可砌磚），平時孔洞處需蓋好板，保證安全。
4.2 投測的技術要領
每次投測時，應將鐳射經緯儀仔細對中，嚴格整平，然後接通鐳射電源，使鐳射器起輝即可發射鉛直的鐳射束。與此同時，在所測設層的樓板預留孔放置300mm的有機玻璃板，鐳射鉛垂儀發出的鐳射束在靶上形成一個小圓形光斑，透過調整發射器的焦距，使靶標上鐳射光斑到最小。為清除鐳射經緯儀本身對測量精度的影響，投測後，將儀器在水平方向作360。迴轉，這時在靶標上出現光斑移動的圓形軌跡（如儀器本身沒有缺陷，則光斑始終如一）。其圓形的圓t2,對準靶標的十字線交點，用細鉛筆跟蹤在靶標上描繪出圓形軌跡圖，這時圓形的圓心即為豎向傳遞點。
4.3 分段測量
為了提高功效和防止鐳射束點的誤差，顧及儀器效能條件和施工環境的影響，縮短投影測程，採取分段控制，分段投點的方式，以豎向60-120m為一段。當第一段施工完畢，此段首層控制點的點位精確地投至上一段的起始樓層上，並進行控制網的檢測與校正，確認控制點準確無誤後，重新埋點。這相當於將下端首層的控制網升至此段首層並鎖定，作為上段各層的投測依據。
4.4 校核
4.4.1 每段垂直度校核
每投測段施工完畢後，採用1mm鋼絲、15kg鉛錘人工投點進行對比校核。
4.4.2 總垂直度校核
每投測段施工完畢後，在首級控制點上架好光至最高的結構層，與控制線進行校核。