大容量的電容(通常指1UF以上)測量時更容易出現容值偏低的現象，造成這種現象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由於儀器內部阻抗分壓的原因與實際顯示的設定電壓不一致。為了使測量結果誤差降到最低,我們建議將儀器調校並儘量把儀器的設定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓儘量調整,使實際於待測電容上輸的出電壓一致. 2、測試條件對量測結果的影響 首先考慮測量條件的問題，對於不同容值的貼片電容會採用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設定和測試頻率的設定上有區別，下表所示為不同容值的量測條件: 電容 AC 電壓 頻率 容量>10μF 1.0± 0.2Vrms 120Hz 1000pF<容量≦10μF 1.0± 0.2Vrms 1kHz 容量≦ 1000pF 1.0± 0.2Vrms 1MHz 3、測量環境條件對量測結果的影響貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列產品被稱為非溫度補償性元件,即在不同的工作溫度環境下,電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標稱容值與實際容值之間的差異。例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環境下一段時間,使材料處於穩定的測試環境下再進行容值測試。4、MLCC產品材料老化現象材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬於可逆現象。當對老化的材料施加高於材料居里溫度段時間後(建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour)，當環境溫度恢復到常溫後(常溫25℃下放置24小時),材料的分子結構將會回到原始的狀態。材料將由此開始老化的又一個迴圈，貼片電容的容值將恢復到正常規格之內。
大容量的電容(通常指1UF以上)測量時更容易出現容值偏低的現象，造成這種現象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由於儀器內部阻抗分壓的原因與實際顯示的設定電壓不一致。為了使測量結果誤差降到最低,我們建議將儀器調校並儘量把儀器的設定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓儘量調整,使實際於待測電容上輸的出電壓一致. 2、測試條件對量測結果的影響 首先考慮測量條件的問題，對於不同容值的貼片電容會採用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設定和測試頻率的設定上有區別，下表所示為不同容值的量測條件: 電容 AC 電壓 頻率 容量>10μF 1.0± 0.2Vrms 120Hz 1000pF<容量≦10μF 1.0± 0.2Vrms 1kHz 容量≦ 1000pF 1.0± 0.2Vrms 1MHz 3、測量環境條件對量測結果的影響貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列產品被稱為非溫度補償性元件,即在不同的工作溫度環境下,電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標稱容值與實際容值之間的差異。例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環境下一段時間,使材料處於穩定的測試環境下再進行容值測試。4、MLCC產品材料老化現象材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬於可逆現象。當對老化的材料施加高於材料居里溫度段時間後(建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour)，當環境溫度恢復到常溫後(常溫25℃下放置24小時),材料的分子結構將會回到原始的狀態。材料將由此開始老化的又一個迴圈，貼片電容的容值將恢復到正常規格之內。