光電耦合器也稱為光電隔離器或光耦合器，即為光耦。耦合媒介為光，透過光訊號傳遞來實現輸入和輸出之間的電隔離器件，可以在電路和系統之間傳遞訊號，同時也能確保這些電路和系統之間的電絕緣。

光電耦合器的好壞判斷

假設以光電耦合器4N25為例，可用兩塊萬用表判斷光耦好壞。

首先拿一塊萬用表，將撥碼撥到R×100Ω檔位，測量光耦的4、5腳，其正反向電阻應為無窮大，否則是壞的或者說效能不佳。

用這塊萬用表的黑表筆接光耦的5腳，紅表筆接4腳。然後另外一塊萬用表撥到R×1Ω檔位，黑表筆接1腳，紅表筆接2腳，可利用萬用表內部電池電壓點亮光耦內部的發光管，此時4和5腳之間的電阻應該變得很小，把接在1和2腳的萬用表撤掉，4和5腳的電阻又會恢復無窮大，在把1和2腳的表筆調換，4和5腳之間的電阻為無窮大，則說明光耦是好的。

將接在1和2腳的萬用表的電阻檔位增大，R×10Ω或R×100Ω，此時4和5腳之間導通且阻值在不斷變大。隨著萬用表的電阻檔位增加，它電阻檔位工作的電流減小，則流過光耦1和2腳的電流減小，使光耦內部的發光管亮度降低，同時光敏管的導通電阻增加，因此可證明光耦是可以正常工作的。

可以透過測量電路上內部二極體和三極體的正向和反向電阻來為您判斷光電耦合器。較為可靠的檢測方法有以下三種。

A.透過比較法排除可能出現故障的光耦。用萬用表測量其內部二極體和電晶體的正負電阻。將測量值與良好的光電耦合器的相應腳進行比較。如果電阻差很大，光耦合器就會損壞。

B.以EL817光電耦合器檢測為例，說明了數字萬用表的檢測方法。

檢測電路如圖1所示。在檢測過程中，光電耦合器內部二極體的+端{1}腳和-端{2}腳分別插入到數字萬用表的HFE C和E插孔中。此時，數字萬用表應放置在NPN塊中。然後，光電耦合器內光電電晶體C{5}腳與指標萬用表的黑色筆連線，e{4}腳與紅色筆連線，指標萬用表移位至RX1k塊。這樣，光耦合器就可以透過指標式萬用表的偏轉角度來判斷，這實際上就是光電流的變化。指標偏右越大，光電耦合器的光電轉換效率越高，即透過率越高，反之越低；如果指標不移動，光耦合器就會損壞。

C.光電效應判斷方法仍以EL817光耦合器檢測為例，檢測電路如圖2所示。萬用表放置在RX1k電阻塊中，兩支筆分別連線到光耦合器的輸出{4}和{5}英尺。然後，將1.5V電池與50-100Omega電阻串聯後，電池的正負極連線到EL817的{1}英尺，負極連線到{2}英尺，或正極和負極分別連線到{1}英尺和{2}英尺。如果指標振盪，光耦合器是好的。如果不振盪，則光耦損壞。萬用表指標擺動偏轉角越大，光電轉換靈敏度越高。

你可以用兩個萬用表來測量它。該光電耦合器由發光二極體和光電電晶體封裝組成。例如，光電耦合器4N25採用DIP-6封裝，具有六個引腳。所述腳分別為陽極和陰極，所述腳為空腳，所述腳分別為電晶體的e電極、C電極和B電極。過去，在使用萬用表測量光電耦合器時，只對發光二極體和光電電晶體分別進行檢測和判斷，而對光電耦合器的傳輸效能卻沒有作出判斷。

知識擴充套件：

在彩電、顯示器等開關電源的維護中，如果光耦合器損壞，必須用線性光耦合器代替。

常用的四英尺線性光耦合器是PC817A-C。

常用的六足線性光耦合器如PC111、TLP521、TLP632、TLP532、PC614、PC714、PS2031等。

常用的4N254N264N264N354N36不適用於開關電源，因為這四種光耦合器屬於非線性光耦合器。