1、直接測量：無需對被測量與其他實測量進行一定函式關係的輔助計算而直接得到被測量值得測量。

2、間接測量：透過直接測量與被測引數有已知函式關係的其他量而得到該被測引數量值的測量。

3、接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面直接接觸，並有機械作用的測力存在（如接觸式三座標等）。

4、非接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面之間沒有機械的測力存在（如光學投影儀、氣動量儀測量和影像測量儀等）。

5、組合測量：如果被測量有多個，雖然被測量（未知量）與某種中間量存在一定函式關係，但由於函式式有多個未知量，對中間量的一次測量是不可能求得被測量的值。這時可以透過改變測量條件來獲得某些可測量的不同組合，然後測出這些組合的數值，解聯立方程求出未知的被測量。

6、比較測量：比較法是指被測量與已知的同類度量器在比較器上進行比較，從而求得被測量的一種方法。這種方法用於高準確度的測量。 按測量方法可分： 1、直接測量法：不必測量與被測量有函式關係的其他量，而能直接得到被測量值的測量方法。 2、間接測量法：透過測量與被測量有函式關係的其他量來得到被測量值的測量方法。 3、定義測量法：根據量的定義來確定該量的測量方法。 4、靜態測量方法：確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。 5、動態測量方法：確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。 6、直接比較測量法：將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。

7、微差測量法：將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較，透過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。