鐳射測厚儀一般是由兩個鐳射位移感測器上下對射的方式組成的，上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，透過計算得到被測體的厚度。鐳射測厚儀的優點在於它採用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射汙染。

兩個鐳射位移感測器的鐳射對射，被測體放置在對射區域內，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。

鐳射線上測厚儀的基本組成是鐳射器、成像物鏡、光電位敏接收器、訊號處理機測量結果顯示系統。鐳射束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電訊號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。

鐳射測厚儀一般是由兩個鐳射位移感測器上下對射的方式組成的，上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，透過計算得到被測體的厚度。鐳射測厚儀的優點在於它採用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射汙染。

　　兩個鐳射位移感測器的鐳射對射，被測體放置在對射區域內，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。

　　鐳射線上測厚儀的基本組成是鐳射器、成像物鏡、光電位敏接收器、訊號處理機測量結果顯示系統。鐳射束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電訊號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。

鐳射測厚儀

測厚原理

兩個鐳射位移感測器的鐳射對射，被測體放置在對射區域內，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。

LPM30C鐳射測厚原理

鐳射測厚儀的基本組成是鐳射器、成像物鏡、光電位敏接收器、訊號處理機測量結果顯示系統。鐳射束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電訊號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化，兩者之間的關係：

式中：

LPM30C測厚計算公式

X、X`——分別是被測物位移和光敏器件上像斑的位移；

L、L`、α——是系統的結構引數,是根據具體使用要求而選定的。

由此可見精確地測量X`就可以得到被測物體的位移量，這就是三角法測量位移的原理。

鐳射測厚儀是採用鐳射雙反射測量方式實現的。其測量原理是利用鐳射位移感測器測量被測物的上下位移而算出被測物的厚度，當被測物的厚度發生變化後，鐳射發生器發射的鐳射照射到被測物，經反射後照射到鐳射接收器上的位置將發生位移變化，通過幾何計算便可知被測物厚度的變化量，並將厚度訊號以數字或曲線方式輸出。