場效電晶體和可控矽都是比較常見的半導體器件，不同的是可控矽主要當做開關來使用，沒有放大作用，而場效電晶體則是既可以當做開關，又可以作為放大使用。而關於它們的好壞判斷，我們使用萬用表即可進行簡單測量，由於小編習慣使用數字萬用表，所以我們來看數字萬用表如何測量這兩個器件。

數字萬用表測量可控矽

一、單向可控矽的測量。將萬用表撥至二極體檔位，紅黑錶針正反測量可控矽的任意兩腳，只有一組有數值顯示的為正常。因為單向可控矽的G極和K極是一個PN接面，只有紅表筆接G極，黑表筆接K極時，內部PN接面才會導通並顯示數值，反向測量沒有讀數，否則為損壞。此方法只能測單向可控矽內部是否短路，不能測量它的觸發能力。

二、雙向可控矽的測量。將萬用表撥至二極體檔位，紅黑表筆正反測量可控矽德任意兩腳，只有兩個腳之間正反測量都會有數值顯示屬於正常。因為雙向可控矽的主電極T1和控制極G可以視為兩個PN接面反向並聯，所以紅黑表筆正反測量都會有讀數，否則為損壞。此方法也只能測可控矽內部是否短路，不能測試它的觸發能力。

可控矽觸發能力的測試可以透過搭建簡單的電路進行測試，具體方法參考上圖，圖中的負載RL實際使用12V燈泡代替。

數字萬用表測量場效電晶體

場效電晶體同樣擁有三個電極，分別是柵極G、源極S和漏極D，在進行測量前需要對三個引腳短接放電，以N溝道場效電晶體為例，說明一下測量方法，步驟如下：

將萬用表撥至二極體檔位，紅黑表筆接觸漏源兩極，只有一組顯示數值為正常（步驟解讀：內部寄生二極體導通壓降值）。紅表筆接漏極，黑表筆接源極，此時沒有讀數；黑表筆不動，紅表筆碰觸一下柵極再接回漏極，此時應該有讀數顯示，並且越來越大為正常。（步驟解讀：利用萬用表內部電池先向柵源極充電，再測導通柵漏導通值。）將場效電晶體短接放電之後，再重複第一步驟。（步驟解讀：柵源放電後，場效電晶體恢復正常）。

以上即為數字萬用表測量場效電晶體和可控矽的方法，測量步驟看似複雜，實際只要熟悉兩種元器件的內部結構，測量起來還是比較簡單的。