1、抽測壓扁定型後芯子容量，發現偏移及時調整卷繞中心值。

2、跟蹤成品容量分佈狀態，發現超差及時反饋，以調整容量修正值。

3、準確確定卷繞容量中心值（也稱修正值） ，必須將熱（冷）壓、熱處理和包封等工序容量的變化率都納入芯子的容量修正值。 不同型號、 不同規格甚至不同臺卷繞機其修正值也不同。

4、卷繞過程中定時抽測芯子的容量和高度，控制電容量的離散性。如果產品包封后短時間便進行測試，結果產品存放一段時間，容量會發生變化，造成容量超差，聚酯薄膜電容器較為明顯，一般往正向偏移。

解決方法有以下幾種：

根據變化規律在測試時控制偏差值，如聚酯 薄膜電容器在正偏差卡緊，負偏差放寬。

製造過程導致電容量產生偏差的工藝因素。

包封后產品再進行一次熱處理。

包封后自然存放一星期再進行測試。

卷繞型薄膜電容器的電容量 C = 0.177ε s / dε 為介質的介電常數 s 為極板的有效面積 d 為介質的厚度 電容量與ε 、s 成正比，與 d 成反比。

檔案雖已做了精確規定，但工藝過程中這三個參 數均會發生變化，導致容量偏差。工藝的重點是減少這些偏差，提高容量命中率。

卷繞工序：膜層寬度、厚度或留邊等本身有誤差。膜的張力從大圈到小圈發生的變化，各臺卷繞機張力的誤差。壓輥壓力太小。卷繞過程跑偏，錯邊誤差。空氣溼度大時導致芯子容量偏大。

熱壓工序：芯子厚度誤差受力不均勻，造成芯子鬆緊不一 容量分散。熱壓板不平整。

溫度誤差。熱處理時間或溫度誤差、內含浸、真空度誤差、時間誤差、固化溫度的誤差。

1、抽測壓扁定型後芯子容量，發現偏移及時調整卷繞中心值。

2、跟蹤成品容量分佈狀態，發現超差及時反饋，以調整容量修正值。

3、準確確定卷繞容量中心值（也稱修正值） ，必須將熱（冷）壓、熱處理和包封等工序容量的變化率都納入芯子的容量修正值。 不同型號、 不同規格甚至不同臺卷繞機其修正值也不同。

4、卷繞過程中定時抽測芯子的容量和高度，控制電容量的離散性。如果產品包封后短時間便進行測試，結果產品存放一段時間，容量會發生變化，造成容量超差，聚酯薄膜電容器較為明顯，一般往正向偏移。

薄膜電容器有偏差怎麼解決？

解決方法有以下幾種：

根據變化規律在測試時控制偏差值，如聚酯 薄膜電容器在正偏差卡緊，負偏差放寬。

製造過程導致電容量產生偏差的工藝因素。

薄膜電容器有四種常見的偏差。

1.在卷繞過程中，定期測量鐵芯的容量和高度，以控制容量的離散性。如果產品在封裝後的短時間內進行測試，產品的容量將在儲存一段時間後發生變化，從而導致容量過剩。聚酯薄膜電容器更明顯，通常向正方向移動。

2、追蹤製成品容積遍佈情況，發覺偏差立即意見反饋，以調節容積調整值。

3、抽測壓扁定型後芯子容量，發現偏移及時調整卷繞中心值。

4.為了準確確定卷繞容量的中心值(也稱為校正值)，必須將熱(冷)壓、熱處理和包裝過程中的容量變化率納入芯的容量校正值。 不一樣型號規格、不一樣規格型號以至於不一樣臺卷繞機其調整值也不一樣。

薄膜電容器偏的差解決方法有以下幾種：

根據變化規律，在測試過程中控制偏差值，例如，聚酯薄膜電容器被夾在正偏差中，負偏差被放鬆。

製造過程中引起電容偏差的工藝因素。

對封裝產品進行另一次熱處理。

包封后自然存放一星期再進行測試。

卷繞薄膜電容器的電容C為0.177 ε s/d ε，介質的介電常數S，極板的有效面積D，介質的厚度。電容與ε和S成正比，與d成反比

檔案雖已做了精確規定，但工藝過程中這三個參 數均會發生變化，導致容量偏差。工藝的重點是減少這些偏差，提高容量命中率。

卷取工序:薄膜層的寬度、厚度、厚度等本身存在誤差。薄膜張力由大圈到小圈的變化及各卷繞機的張力誤差。壓輥壓力太小。卷繞全過程方向跑偏，錯邊偏差。空氣溼度大時導致芯子容量偏大。

熱壓工藝:型芯的厚度誤差受力不均勻，導致型芯鬆緊不均勻，容量分散。熱壓板不平。

溫度偏差。熱處理時間或溫度誤差、浸漬、真空度誤差、時間誤差和固化溫度誤差。

根據變化規律，在測試過程中控制偏差值，例如，聚酯薄膜電容器被夾在正偏差中，負偏差被放鬆。

製造過程中引起電容偏差的工藝因素。

對封裝產品進行另一次熱處理。

包封后自然存放一星期再進行測試。