背景技術：
光學檢測系統常應用於製造業中，其利用光學照明配合影像擷取來取得產品的表面狀態，以檢測產品表面是否存在有凹或凸的瑕疵；此為品質管理的一重要環節。
一般在對光學薄膜或板材進行瑕疵檢測時，會將光源產生的所有光束全數地投射到待測物件以照亮待測物件，進而使瑕疵顯像。然而，當待測物件為透光物件且厚度低於一預定值時，讓光源產生的光束全數地投射到其上時，反而不利於缺陷顯像。
技術實現要素：
有鑑於此，本發明提供一種光學檢測方法，用以檢測一透光物件上是否存在瑕疵，該光學檢測方法包含如下步驟：提供一光源模組及一影像擷取模組，透光物件配置於光源模組及影像擷取模組之間，光源模組提供光束以照射透光物件，其中影像擷取模組具有一受光軸；提供一遮光片並配置遮光片於光源模組及透光物件之間，以遮蔽該光源模組提供的部分光束；其中，由影像擷取模組的其中一側面觀測，受光軸與遮光片的一側緣之間的間隙距離的變動不大於±1mm。
本發明另提供一種光學檢測方法，用以檢測一透光物件上是否存在瑕疵；該光學檢測方法包含如下步驟：提供一光源模組及一影像擷取模組，透光物件配置於光源模組及影像擷取模組之間，光源模組提供一光束以照射透光物件，影像擷取模組具有一受光軸；以及提供一遮光片，該遮光片具有一狹縫並配置該遮光片於光源模組及影像擷取模組之間，以遮蔽光源模組提供的部分光束；其中，由影像擷取模組的其中一側面觀測，受光軸貫穿遮光片非形成狹縫之處。
背景技術：
光學檢測系統常應用於製造業中，其利用光學照明配合影像擷取來取得產品的表面狀態，以檢測產品表面是否存在有凹或凸的瑕疵；此為品質管理的一重要環節。
一般在對光學薄膜或板材進行瑕疵檢測時，會將光源產生的所有光束全數地投射到待測物件以照亮待測物件，進而使瑕疵顯像。然而，當待測物件為透光物件且厚度低於一預定值時，讓光源產生的光束全數地投射到其上時，反而不利於缺陷顯像。
技術實現要素：
有鑑於此，本發明提供一種光學檢測方法，用以檢測一透光物件上是否存在瑕疵，該光學檢測方法包含如下步驟：提供一光源模組及一影像擷取模組，透光物件配置於光源模組及影像擷取模組之間，光源模組提供光束以照射透光物件，其中影像擷取模組具有一受光軸；提供一遮光片並配置遮光片於光源模組及透光物件之間，以遮蔽該光源模組提供的部分光束；其中，由影像擷取模組的其中一側面觀測，受光軸與遮光片的一側緣之間的間隙距離的變動不大於±1mm。
本發明另提供一種光學檢測方法，用以檢測一透光物件上是否存在瑕疵；該光學檢測方法包含如下步驟：提供一光源模組及一影像擷取模組，透光物件配置於光源模組及影像擷取模組之間，光源模組提供一光束以照射透光物件，影像擷取模組具有一受光軸；以及提供一遮光片，該遮光片具有一狹縫並配置該遮光片於光源模組及影像擷取模組之間，以遮蔽光源模組提供的部分光束；其中，由影像擷取模組的其中一側面觀測，受光軸貫穿遮光片非形成狹縫之處。