近紅外光譜(NIR)是介於可見光(VIS)和中紅外光(MIR)之間的電磁波譜，波數約為：10000~4000cm-1。近紅外光譜法是利用含有氫基團（X-H，X為：C，O，N，S等）化學鍵(X-H)伸縮振動倍頻和合頻，在近紅外區的吸收光譜，透過選擇適當的化學計量學多元校正方法，把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質資料進行關聯，建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質之間的關係-校正模型。在進行未知樣品預測時，應用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜，就可定量預測其成分濃度或性質。另外，透過選擇合適的化學計量學模式識別方法，也可分離提取樣本的近紅外吸收光譜特徵資訊，並建立相應的類模型。在進行未知樣品的分類時，應用已建立的類模型和未知樣品的吸收光譜，便可定性判別未知樣品的歸屬。

具體而言，近紅外光譜的分析技術與其他常規分析技術不同。現代近紅外光譜是一種間接分析技術,是透過校正模型的建立實現對未知樣本的定性或定量分析。圖1給出了近紅外光譜分析模型建立及應用的框圖,其分析方法的建立主要透過以下幾個步驟完成。選擇有代表性的校正集樣本並測量其近紅外光譜；採用標準或認可的參考方法測定所關心的組成或性質資料；根據測量的光譜和基礎資料透過合理的化學計量學方法建立校正模型,在光譜與基礎資料關聯前,為減輕以至於消除各種因素對光譜的干擾,需要採用合適的方法對光譜進行預處理；未知樣本組成性質的測定,在對未知樣本測定時,根據測定的光譜和校正模型適用性判據,要確定建立的校正模型是否適合對未知樣本進行測定,如適合,則測定的結果符合模型允許的誤差要求,否則只能提供參考性資料。