Guinier低溫環境XRD產品介紹：
德國HUBER快速X射線粉末衍射儀，高精度的機械加工，豐富了X射線衍射儀的使用場景，擴大了使用範圍，該系統可分別實現“微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測量”等全部要求。
Guinier超低溫高精X射線粉末衍射儀運用成像板技術，透過成熟的工藝技術，配合溫度調節配件，可對低低至4K的粉末樣品進行X射線衍射測量。
以下將詳細介紹以Guinier Camera G670相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4為核心構造的快速超低溫高精X射線粉末衍射儀。
獨特的成像板技術
由聚酯製成的柔性安裝箔上塗有由晶體組成的均勻粉末的發光儲存材料(顆粒大小約0.005mm)，即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發光中心(BaFBr:Eu2+)。
影象儲存箔片位於Guinier相機670中，敏感面向內，對準在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的溼法影印技術相同。之後，在約5秒的時間內，用垂直的線性紅色二極體產生的鐳射束掃描成像板。
由此產生的藍色光激勵發光(PSL)從受X射線照射的區域發出，在掃描過程中由光電倍增管放大，然後記錄。初始的模擬訊號透過一個16位的A /D轉換器轉換成數字計數。
透過白色鹵素燈，可以在10秒內擦除已儲存的影象結構，並支援下一次成像。
除影象儲存箔外，670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的鐳射記錄單元，以及鹵素擦除燈。
這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統的溼法影印技術的高解析度，及影象板檢測技術的高靈敏度。因此，它能夠在儘可能短的時間內提供數字粉末衍射圖，然後可以透過Rietveld分析或類似的方法進一步處理。
所提供的測量軟體在MS-Windows下執行，並將多可達20001個計數點的衍射圖檔案儲存成各類標準檔案格式。
超低溫裝置
Low Temperature Device 670.4
粉末樣品，可以在約12K至350 K之間進行研究。與標準樣品臺670.1類似，粉末被夾在兩層聚酯薄膜之間。
冷卻裝置具有完整的幾何設計結構，透射角為45°。樣品被封裝在一個冷卻的銅塊中，銅塊周圍有兩個冷卻罩。樣品由位於低溫恆溫箱外的旋轉條形磁鐵振盪。空冷壓縮機為閉式迴圈液氦冷卻系統提供動力。溫度由矽二極體和冷卻頭中的加熱元件控制。
調節系統由電腦和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系統和所有必要的裝置。
Guinier低溫環境XRD技術引數：
計數點(max.)：20001
2-Theta範圍 (max.) ：100°
2-Theta 步長：0.005°
A/D 解析度：16 Bit
動態範圍(multi-scan)：~200000 counts
讀出時間：<5 sec
擦除時間：10 sec
焦圓半徑：90 mm.
硬體要求
X射線光源：0.4*8 mm2垂直細線焦點
檯面以上橫樑高度：~275mm
桌面面積：~600*500mm2
19”機架，3個高度單位
該系統以Guinier高解析度相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4為主要核心元件，透過在此基礎上搭建的超低溫系統，以響應客戶超低溫條件下的粉末試樣進行高精度測量的需求。做低溫單晶衍射的多,做低溫粉末衍射的少。原因是低溫單晶吹液氮就行,而低溫粉末需要低溫臺,這玩意貴,不是標準配置
Guinier低溫環境XRD產品介紹：
德國HUBER快速X射線粉末衍射儀，高精度的機械加工，豐富了X射線衍射儀的使用場景，擴大了使用範圍，該系統可分別實現“微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測量”等全部要求。
Guinier超低溫高精X射線粉末衍射儀運用成像板技術，透過成熟的工藝技術，配合溫度調節配件，可對低低至4K的粉末樣品進行X射線衍射測量。
以下將詳細介紹以Guinier Camera G670相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4為核心構造的快速超低溫高精X射線粉末衍射儀。
獨特的成像板技術
由聚酯製成的柔性安裝箔上塗有由晶體組成的均勻粉末的發光儲存材料(顆粒大小約0.005mm)，即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發光中心(BaFBr:Eu2+)。
影象儲存箔片位於Guinier相機670中，敏感面向內，對準在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的溼法影印技術相同。之後，在約5秒的時間內，用垂直的線性紅色二極體產生的鐳射束掃描成像板。
由此產生的藍色光激勵發光(PSL)從受X射線照射的區域發出，在掃描過程中由光電倍增管放大，然後記錄。初始的模擬訊號透過一個16位的A /D轉換器轉換成數字計數。
透過白色鹵素燈，可以在10秒內擦除已儲存的影象結構，並支援下一次成像。
除影象儲存箔外，670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的鐳射記錄單元，以及鹵素擦除燈。
這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統的溼法影印技術的高解析度，及影象板檢測技術的高靈敏度。因此，它能夠在儘可能短的時間內提供數字粉末衍射圖，然後可以透過Rietveld分析或類似的方法進一步處理。
所提供的測量軟體在MS-Windows下執行，並將多可達20001個計數點的衍射圖檔案儲存成各類標準檔案格式。
超低溫裝置
Low Temperature Device 670.4
粉末樣品，可以在約12K至350 K之間進行研究。與標準樣品臺670.1類似，粉末被夾在兩層聚酯薄膜之間。
冷卻裝置具有完整的幾何設計結構，透射角為45°。樣品被封裝在一個冷卻的銅塊中，銅塊周圍有兩個冷卻罩。樣品由位於低溫恆溫箱外的旋轉條形磁鐵振盪。空冷壓縮機為閉式迴圈液氦冷卻系統提供動力。溫度由矽二極體和冷卻頭中的加熱元件控制。
調節系統由電腦和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系統和所有必要的裝置。
Guinier低溫環境XRD技術引數：
計數點(max.)：20001
2-Theta範圍 (max.) ：100°
2-Theta 步長：0.005°
A/D 解析度：16 Bit
動態範圍(multi-scan)：~200000 counts
讀出時間：<5 sec
擦除時間：10 sec
焦圓半徑：90 mm.
硬體要求
X射線光源：0.4*8 mm2垂直細線焦點
檯面以上橫樑高度：~275mm
桌面面積：~600*500mm2
19”機架，3個高度單位
該系統以Guinier高解析度相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4為主要核心元件，透過在此基礎上搭建的超低溫系統，以響應客戶超低溫條件下的粉末試樣進行高精度測量的需求。做低溫單晶衍射的多,做低溫粉末衍射的少。原因是低溫單晶吹液氮就行,而低溫粉末需要低溫臺,這玩意貴,不是標準配置