1、使用指標萬用表檢查可控矽極性和好壞方法
根據PN接面原理，可控矽三個極之間的電阻值，可用歐姆擋“R×10”或“R×100”擋測量來判別好壞。可控矽的控制極G與陰極K之間是一個PN接面，在正常情況下，它的正向電阻在幾十歐到幾百歐之間，一般反向電阻比正向電阻要大。有時測得控制極反向電阻較小，不一定說明控制極特性差，主要應看其是否符合PN接面的特點。
2、使用數字萬用表檢查可控矽極性和好壞方法
判斷可控矽的電極數字萬用表撥至二極體擋，紅表筆接某一電極，黑表筆分別接觸另外兩個電極。如果其中有一次顯示電壓為零點幾伏，則此時紅表筆接的是控制極G，黑表筆接的是陰極K，餘下的則是陽極A。假如兩次都顯示溢位，說明紅表筆接的不是控制極，需更換電極重測。
測試可控矽的觸發能力數字萬用表撥至PNP擋，此時hFE插口上的兩個E孔帶正電，C孔帶負電，電壓為2.8V。可控矽的三個電極各用一根導線引出，陽極A、陰極K引線分別插人E孔和C孔，控制極G懸空。此時可控矽關斷，陽極電流為零，將顯示000。
把控制極G插人另一個E孔。顯示值將從000開始迅速增加，直到顯示溢位符號後，立即又變成000，然後再次從000變到溢位，這樣週而復始。採用此法可確定可控矽的觸發是否可靠。但這樣的測試由於電流較大，應儘量縮短測試時間。必要時也可在可控矽的陽極上串一隻幾百歐的保護電阻。
如果使用NPN擋，可控矽陽極A應接C孔，陰極K接E孔，以保證所加的是正向電壓。檢查觸發能力時，控制極不要插人B孔，因B孔的電壓較低，可控矽無法導通。
1、使用指標萬用表檢查可控矽極性和好壞方法
根據PN接面原理，可控矽三個極之間的電阻值，可用歐姆擋“R×10”或“R×100”擋測量來判別好壞。可控矽的控制極G與陰極K之間是一個PN接面，在正常情況下，它的正向電阻在幾十歐到幾百歐之間，一般反向電阻比正向電阻要大。有時測得控制極反向電阻較小，不一定說明控制極特性差，主要應看其是否符合PN接面的特點。
2、使用數字萬用表檢查可控矽極性和好壞方法
判斷可控矽的電極數字萬用表撥至二極體擋，紅表筆接某一電極，黑表筆分別接觸另外兩個電極。如果其中有一次顯示電壓為零點幾伏，則此時紅表筆接的是控制極G，黑表筆接的是陰極K，餘下的則是陽極A。假如兩次都顯示溢位，說明紅表筆接的不是控制極，需更換電極重測。
測試可控矽的觸發能力數字萬用表撥至PNP擋，此時hFE插口上的兩個E孔帶正電，C孔帶負電，電壓為2.8V。可控矽的三個電極各用一根導線引出，陽極A、陰極K引線分別插人E孔和C孔，控制極G懸空。此時可控矽關斷，陽極電流為零，將顯示000。
把控制極G插人另一個E孔。顯示值將從000開始迅速增加，直到顯示溢位符號後，立即又變成000，然後再次從000變到溢位，這樣週而復始。採用此法可確定可控矽的觸發是否可靠。但這樣的測試由於電流較大，應儘量縮短測試時間。必要時也可在可控矽的陽極上串一隻幾百歐的保護電阻。
如果使用NPN擋，可控矽陽極A應接C孔，陰極K接E孔，以保證所加的是正向電壓。檢查觸發能力時，控制極不要插人B孔，因B孔的電壓較低，可控矽無法導通。