二次使用方法： 1，啟動電腦；開啟系統；啟動二次元程式；關閉機臺，電腦關機； 2，二次元系統自動歸位，當系統Y和X軸原點定位為0時，代表Y和X軸歸位完成，每班對 二次元進行校正處理，○1將校正塊放置於掃描平臺上，○2按下功能表“校正處理” 影像校正 線性校正 決定鏡頭要使用的放大倍率，並調好焦距，○3選擇校正塊上面的一個合適大小標準圓，用滑鼠左鍵點選一下那個圓，移動X軸，讓該標準圓離開原位置並在方向座標指向方框內用滑鼠左鍵點選一下圓，○4移動Y軸，讓該標準圓離開原位置並在方向座標指向方框內用滑鼠左鍵點選一下圓，○5重複○3○4步驟，然後按滑鼠右鍵出現“校正成功”對話方塊，按下確定，即校正成功。 5.3量測： 5.3.1 量測選擇按下“上燈開關”和“下燈開關”工具，並調節好電位器選擇燈源的亮度； 5.3.2量測時選用正確的量測工具。 5.4線性測量： 5.4.1檢測線寬/距0.10MM以下要求開啟所有上燈燈光，將光度調至適當光線，倍率調至最 大數字”12”然後選擇”方框線測量工具”進行測量。不可使用手動找點測量方式，否則對責任人進行處罰。所有線寬/距0.07MM以下（包含0.07MM）所測量的資料最終以五
檔案類別 作業指導書 編制部門 工藝部 檔名稱 二次元操作規程 頁 碼 第4頁 共4頁 檔案編號 KW3-QW-IQC-06 版本 A0 生效日期 樓IQC二次元檢測資料為準。 5.4.2 0.1MM—0.3MM線寬/距間使用數字倍率數字“12”倍，允許使用手動找點測量方式，0． 3MM—0.5MM線寬/距之間使用倍率數字最低不能低於“10”倍,0.5MM—1.0MM以上線寬/距使用倍率數字最低不能低於6倍，測量1.2MM以上2.0MM以下線寬/距最低使用倍率不得低於數字2倍,2.0MM以上可根據實物選擇。 5.5孔徑測量： 5.5.1量測選擇按下“上燈開關”和“下燈開關”工具，並調節好電位器選擇燈源的亮度，量測時 可根據實際測量產品選用合適的燈光。 5.5.2量測時選用正確的量測工具。 5.5.3檢測孔徑直徑0.1-0.5MM要求開啟下燈燈光，將光度調至適當光線，倍率調至最大數 字”12”然後選擇”圓形測量工具”進行測量。依實際產品情況可使
二次使用方法： 1，啟動電腦；開啟系統；啟動二次元程式；關閉機臺，電腦關機； 2，二次元系統自動歸位，當系統Y和X軸原點定位為0時，代表Y和X軸歸位完成，每班對 二次元進行校正處理，○1將校正塊放置於掃描平臺上，○2按下功能表“校正處理” 影像校正 線性校正 決定鏡頭要使用的放大倍率，並調好焦距，○3選擇校正塊上面的一個合適大小標準圓，用滑鼠左鍵點選一下那個圓，移動X軸，讓該標準圓離開原位置並在方向座標指向方框內用滑鼠左鍵點選一下圓，○4移動Y軸，讓該標準圓離開原位置並在方向座標指向方框內用滑鼠左鍵點選一下圓，○5重複○3○4步驟，然後按滑鼠右鍵出現“校正成功”對話方塊，按下確定，即校正成功。 5.3量測： 5.3.1 量測選擇按下“上燈開關”和“下燈開關”工具，並調節好電位器選擇燈源的亮度； 5.3.2量測時選用正確的量測工具。 5.4線性測量： 5.4.1檢測線寬/距0.10MM以下要求開啟所有上燈燈光，將光度調至適當光線，倍率調至最 大數字”12”然後選擇”方框線測量工具”進行測量。不可使用手動找點測量方式，否則對責任人進行處罰。所有線寬/距0.07MM以下（包含0.07MM）所測量的資料最終以五
檔案類別 作業指導書 編制部門 工藝部 檔名稱 二次元操作規程 頁 碼 第4頁 共4頁 檔案編號 KW3-QW-IQC-06 版本 A0 生效日期 樓IQC二次元檢測資料為準。 5.4.2 0.1MM—0.3MM線寬/距間使用數字倍率數字“12”倍，允許使用手動找點測量方式，0． 3MM—0.5MM線寬/距之間使用倍率數字最低不能低於“10”倍,0.5MM—1.0MM以上線寬/距使用倍率數字最低不能低於6倍，測量1.2MM以上2.0MM以下線寬/距最低使用倍率不得低於數字2倍,2.0MM以上可根據實物選擇。 5.5孔徑測量： 5.5.1量測選擇按下“上燈開關”和“下燈開關”工具，並調節好電位器選擇燈源的亮度，量測時 可根據實際測量產品選用合適的燈光。 5.5.2量測時選用正確的量測工具。 5.5.3檢測孔徑直徑0.1-0.5MM要求開啟下燈燈光，將光度調至適當光線，倍率調至最大數 字”12”然後選擇”圓形測量工具”進行測量。依實際產品情況可使