1、測角儀的工作原理
測角儀在工作時，X射線從射線管發出，經一系列狹縫後，照射在樣品上產生衍射。計數器圍繞測角儀的軸在測角儀圓上運動，記錄衍射線，其旋轉的角度即
2θ，可以從刻度盤上讀出。與此同時，樣品臺也圍繞測角儀的軸旋轉，轉速為計數器轉速的1/2。為什麼？
為了能增大衍射強度，衍射儀法中採用的是平板式樣品，以便使試樣被X射線照射的面積較大。這裡的關鍵是一方面試樣要滿足布拉格方程的反射條件。另一方面還要滿足衍射線的聚焦條件，即使整個試樣上產生的X衍射線均能被計數器所接收。
在理想的在理想情況下，X射線源、計數器和試樣在一個聚焦圓上。且試樣是彎曲的，曲率與聚焦圓相同。對於粉末多晶體試樣，在任何方位上總會有一些（hkl）晶面滿足布拉格方程產生反射，而且反射是向四面八方的，但是，那些平行於試樣表面的晶面滿足布拉格方程時，產生衍射，且滿足入射角=反射角的條件。由平面幾何可知，位於同一圓弧上的圓周角相等，所以，位於試樣不同部位M，O，N處平行於試樣表面的（hkl）晶面，可以把各自的反射線會聚到F點（由於S
是線光源，所以廠點得到的也是線光源）。這樣便達到了聚焦的目的。
在測角儀的實際工作中，通常X射線源是固定不動的。計數器並不沿聚焦圓移動，而是沿測角儀圓移動逐個地對衍射線進行測量。因此聚焦圓的半徑一直隨著2θ角的變化而變化。在這種情況下，為了滿足聚焦條件，即相對試樣的表面，滿足入射角=反射角的條件，必須使試樣與計數器轉動的角速度保持1:2的速度比。不過，在實際工作中，這種聚焦不是十分精確的。因為，實際工作中所採用的樣品不是弧形的而是平面的，並讓其與聚焦圓相切，因此實際上只有一個點在聚焦圓上。這樣，衍射線並非嚴格地聚集在F點上，而是有一定的發散。但這對於一般目的而言，尤其是2θ角不大的情況下（2θ角越小，聚焦圓的曲率半徑越大，越接近於平面），是可以滿足要求的。
1、測角儀的工作原理
測角儀在工作時，X射線從射線管發出，經一系列狹縫後，照射在樣品上產生衍射。計數器圍繞測角儀的軸在測角儀圓上運動，記錄衍射線，其旋轉的角度即
2θ，可以從刻度盤上讀出。與此同時，樣品臺也圍繞測角儀的軸旋轉，轉速為計數器轉速的1/2。為什麼？
為了能增大衍射強度，衍射儀法中採用的是平板式樣品，以便使試樣被X射線照射的面積較大。這裡的關鍵是一方面試樣要滿足布拉格方程的反射條件。另一方面還要滿足衍射線的聚焦條件，即使整個試樣上產生的X衍射線均能被計數器所接收。
在理想的在理想情況下，X射線源、計數器和試樣在一個聚焦圓上。且試樣是彎曲的，曲率與聚焦圓相同。對於粉末多晶體試樣，在任何方位上總會有一些（hkl）晶面滿足布拉格方程產生反射，而且反射是向四面八方的，但是，那些平行於試樣表面的晶面滿足布拉格方程時，產生衍射，且滿足入射角=反射角的條件。由平面幾何可知，位於同一圓弧上的圓周角相等，所以，位於試樣不同部位M，O，N處平行於試樣表面的（hkl）晶面，可以把各自的反射線會聚到F點（由於S
是線光源，所以廠點得到的也是線光源）。這樣便達到了聚焦的目的。
在測角儀的實際工作中，通常X射線源是固定不動的。計數器並不沿聚焦圓移動，而是沿測角儀圓移動逐個地對衍射線進行測量。因此聚焦圓的半徑一直隨著2θ角的變化而變化。在這種情況下，為了滿足聚焦條件，即相對試樣的表面，滿足入射角=反射角的條件，必須使試樣與計數器轉動的角速度保持1:2的速度比。不過，在實際工作中，這種聚焦不是十分精確的。因為，實際工作中所採用的樣品不是弧形的而是平面的，並讓其與聚焦圓相切，因此實際上只有一個點在聚焦圓上。這樣，衍射線並非嚴格地聚集在F點上，而是有一定的發散。但這對於一般目的而言，尤其是2θ角不大的情況下（2θ角越小，聚焦圓的曲率半徑越大，越接近於平面），是可以滿足要求的。