光學顯微鏡法：

(1)偏光顯微鏡祛將礦物或岩石標本磨製成薄片，在偏光顯微鏡下鑑定礦物的光學性質，確定岩石的礦物成分，確定岩石型別及其成因特徵，最後定出岩石名稱的工作，又稱岩石薄片鑑定法。

這是研究礦物岩石最常用的方法。可以獲得礦物的顏色、形狀、大小、折光率、消光角、重摺率、干涉色、軸性、光軸角等光學常數，還能獲得礦物的形成順序、次生變化、體積百分含量以及岩石的結構構造、膠結型別等特徵，進而對岩石進行正確的定名。為了獲取更精確的光軸角、消光角資料、折光率資料，

可再選用費氏臺法、油浸法或干涉顯微鏡法等。

(2)反光顯微鏡法。主要用於金屬礦物及礦石的研究，還廣泛應用於非金屬材料的研究。

熱分析方法：

該方法是根據在熱處理過程中發生的熱效應(如吸熱、放熱)來鑑定礦物或混合物的組成。常用的方法有差熱分析和綜合熱分析。

電子顯微鏡分析：

常用的儀器有透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、電子探針(EPMA)等。

X射線物相分析：

對結晶物質的物相進行分析的一種有效方法

譜學分析：

1、譜學方法有數十種，在礦物學.上常用的有紅外光譜、拉曼光譜、穆斯堡爾譜、核磁共振被譜等。

2、以紅外光譜為例，每種礦物都有自己的特徵光譜，紅外光譜就是利用礦物的特徵譜線監定未知礦物及混合物中主要組成礦物的定量確定，研究礦物類質同像置換、有序一無序現象、水的存在形式、標型特徵等。