主要是半導體元件生產的一些工序 流程罷了。 要封裝就得有晶圓，要測試就要封裝好，要做電路板 就用測試好的元件唄。

半導體封裝測試：是指將透過測試的晶圓按照產品型號及功能需求加工得到獨立晶片的過程。

封裝過程為：

來自晶圓前道工藝的晶圓透過劃片工藝後，被切割為小的晶片（Die），然後將切割好的晶片用膠水貼裝到相應的基板（引線框架）架的小島上，再利用超細的金屬（金、錫、銅、鋁）導線或者導電性樹脂將晶片的接合焊盤（Bond Pad）連線到基板的相應引腳（Lead）,並構成所要求的電路；

然後再對獨立的晶片用塑膠外殼加以封裝保護，塑封之後，還要進行一系列操作，如後固化（Post Mold Cure）、切筋和成型（Trim&Form）、電鍍（Plating）以及列印等工藝。封裝完成後進行成品測試，通常經過入檢（Incoming）、測試（Test）和包裝（Packing）等工序，最後入庫出貨。

典型的封裝工藝流程為：劃片—— 裝片 ——鍵合—— 塑封 ——去飛邊—— 電鍍—— 列印—— 切筋和成型—— 外觀檢查—— 成品測試—— 包裝出貨。