掃描隧道顯微鏡 掃描隧道顯微鏡的英文縮寫是STM。這是20世紀80年代初期出現的一種新型表面分析工具。其基本原理是基於量子力學的隧道效應和三維掃描。它是用一個極細的尖針（針尖頭部為單個原子）去接近樣品表面，當針尖和樣品表面靠得很近，即小於1奈米時，針尖頭部的原子和樣品表面原子的電子雲發生重疊。此時若在針尖和樣品之間加上一個偏壓，電子便會穿過針尖和樣品之間的勢壘而形成納安級（10ˉ9 A）的隧道電流。透過控制針尖與樣品表面間距的恆定，並使針尖沿表面進行精確的三維移動，就可將表面形貌和表面電子態等有關表面資訊記錄下來。 掃描隧道顯微鏡,具有很高的空間解析度，橫向可達0．l奈米，縱向可優於0．01奈米。它主要用來描繪表面三維的原子結構圖，在奈米尺度上研究物質的特性，利用掃描隧道顯微鏡還可以實現對錶面的奈米加工，如直接操縱原子或分子，完成對錶面的剝蝕、修飾以及直接書寫等。目前掃描隧道顯微鏡取得了一系列新進展，出現了原子力顯微鏡（AFM）。彈道電子發射顯微鏡（BEEM）、光子掃描隧道顯微鏡（PSTM），以及掃描近場光學顯微鏡（SNOM）等。參考資料：摘自《世界科技大博覽》
掃描隧道顯微鏡 掃描隧道顯微鏡的英文縮寫是STM。這是20世紀80年代初期出現的一種新型表面分析工具。其基本原理是基於量子力學的隧道效應和三維掃描。它是用一個極細的尖針（針尖頭部為單個原子）去接近樣品表面，當針尖和樣品表面靠得很近，即小於1奈米時，針尖頭部的原子和樣品表面原子的電子雲發生重疊。此時若在針尖和樣品之間加上一個偏壓，電子便會穿過針尖和樣品之間的勢壘而形成納安級（10ˉ9 A）的隧道電流。透過控制針尖與樣品表面間距的恆定，並使針尖沿表面進行精確的三維移動，就可將表面形貌和表面電子態等有關表面資訊記錄下來。 掃描隧道顯微鏡,具有很高的空間解析度，橫向可達0．l奈米，縱向可優於0．01奈米。它主要用來描繪表面三維的原子結構圖，在奈米尺度上研究物質的特性，利用掃描隧道顯微鏡還可以實現對錶面的奈米加工，如直接操縱原子或分子，完成對錶面的剝蝕、修飾以及直接書寫等。目前掃描隧道顯微鏡取得了一系列新進展，出現了原子力顯微鏡（AFM）。彈道電子發射顯微鏡（BEEM）、光子掃描隧道顯微鏡（PSTM），以及掃描近場光學顯微鏡（SNOM）等。參考資料：摘自《世界科技大博覽》