為保證儀器的合理使用,既不損壞被測電晶體,也不損壞儀器內部線路,在使用儀器前應注意下列事項:
1. 對被測管的主要直流引數應有一個大概的瞭解和估計,特別要了解被測管的集電極最大允許耗散功率PCM、最大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO、BVCBO 。
2. 選擇好掃描和階梯訊號的極性,以適應不同管型和測試專案的需要。
3. 根據所測引數或被測管允許的集電極電壓,選擇合適的掃描電壓範圍。一般情況下,應先將峰值電壓調至零,更改掃描電壓範圍時,也應先將峰值電壓調至零。選擇一定的功耗電阻,測試反向特性時,功耗電阻要選大一些,同時將X、Y偏轉開關置於合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調節到需要值。
4. 對被測管進行必要的估算,以選擇合適的階梯電流或階梯電壓,一般宜先小一點,再根據需要逐步加大。測試時不應超過被測管的集電極最大允許功耗。
5. 在進行ICM的測試時,一般採用單簇為宜,以免損壞被測管。
6. 在進行IC或ICM的測試中,應根據集電極電壓的實際情況選擇,不應超過本儀器規定的最大電流。
7. 進行高壓測試時,應特別注意安全,電壓應從零逐步調節到需要值。觀察完畢,應及時將峰值電壓調到零。
五、基本操作步驟
1. 按下電源開關,指示燈亮,預熱15分鐘後,即可進行測試。
2. 調節輝度、聚焦及輔助聚焦,使光點清晰。
3. 將峰值電壓旋鈕調至零,峰值電壓範圍、極性、功耗電阻等開關置於測試所需位置。
4. 對X、Y軸放大器進行10度校準。
5. 調節階梯調零。
6. 選擇需要的基極階梯訊號,將極性、串聯電阻置於合適擋位,調節級/簇旋鈕,使階梯訊號為10級/簇,階梯訊號置重複位置。
7. 插上被測電晶體,緩慢地增大峰值電壓,熒光屏上即有曲線顯示。
為保證儀器的合理使用,既不損壞被測電晶體,也不損壞儀器內部線路,在使用儀器前應注意下列事項:
1. 對被測管的主要直流引數應有一個大概的瞭解和估計,特別要了解被測管的集電極最大允許耗散功率PCM、最大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO、BVCBO 。
2. 選擇好掃描和階梯訊號的極性,以適應不同管型和測試專案的需要。
3. 根據所測引數或被測管允許的集電極電壓,選擇合適的掃描電壓範圍。一般情況下,應先將峰值電壓調至零,更改掃描電壓範圍時,也應先將峰值電壓調至零。選擇一定的功耗電阻,測試反向特性時,功耗電阻要選大一些,同時將X、Y偏轉開關置於合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調節到需要值。
4. 對被測管進行必要的估算,以選擇合適的階梯電流或階梯電壓,一般宜先小一點,再根據需要逐步加大。測試時不應超過被測管的集電極最大允許功耗。
5. 在進行ICM的測試時,一般採用單簇為宜,以免損壞被測管。
6. 在進行IC或ICM的測試中,應根據集電極電壓的實際情況選擇,不應超過本儀器規定的最大電流。
7. 進行高壓測試時,應特別注意安全,電壓應從零逐步調節到需要值。觀察完畢,應及時將峰值電壓調到零。
五、基本操作步驟
1. 按下電源開關,指示燈亮,預熱15分鐘後,即可進行測試。
2. 調節輝度、聚焦及輔助聚焦,使光點清晰。
3. 將峰值電壓旋鈕調至零,峰值電壓範圍、極性、功耗電阻等開關置於測試所需位置。
4. 對X、Y軸放大器進行10度校準。
5. 調節階梯調零。
6. 選擇需要的基極階梯訊號,將極性、串聯電阻置於合適擋位,調節級/簇旋鈕,使階梯訊號為10級/簇,階梯訊號置重複位置。
7. 插上被測電晶體,緩慢地增大峰值電壓,熒光屏上即有曲線顯示。