1 選擇合適的分析方法
(1) 根據試樣的中待測組分的含量選擇分析方法。高含量組分用滴定分析或重量分析法；低含量用儀器分析法。
(2) 充分考慮試樣共存組分對測定的干擾，採用適當的掩蔽或分離方法。
(3) 對於痕量組分，分析方法的靈敏度不能滿足分析的要求，可先定量富集後再進行測定 .
2 減小測量誤差
→稱量：分析天平的稱量誤差為±0.0002g，為了使測量時的相對誤差在0.1%以下，試樣質量必須在0.2 g以上。
→滴定管讀數常有±0.0l mL的誤差，在一次滴定中，讀數兩次，可能造成±0.02 mL的誤差。為使測量時的相對誤差小於0.1%，消耗滴定劑的體積必須在20 mL以上，最好使體積在25 mL左右，一般在20至30mL之間。
→微量組分的光度測定中，可將稱量的準確度提高約一個數量級 。
3 減小隨機誤差
在消除系統誤差的前提下，平行測定次數愈多，平均值愈接近真實值。因此，增加測定次數，可以提高平均值精密度。在化學分析中，對於同一試樣，通常要求平行測定（parallel determination）2-4次。
4 消除系統誤差
(1) 對照試驗 -contrast test
(2) 空白試驗 - blank test
(3) 校準儀器 -calibration instrument
(4) 分析結果的校正 -correction result
5 整理系統誤差
(1) 對照試驗
→與標準試樣的標準結果進行對照 ;
標準試樣、管理樣、合成樣、加入回收法。
→與其它成熟的分析方法進行對照 ;
國家標準分析方法或公認的經典分析方法。
→由不同分析人員，不同實驗室來進行對照試驗。
內檢、外檢。
(2) 空白試驗
空白實驗：在不加待測組分的情況下，按照試樣分析同樣的操作手續和條件進行實驗，所測定的結果為空白值，從試樣測定結果中扣除空白值，來校正分析結果。
消除由試劑、蒸餾水、實驗器皿和環境帶入的雜質引起的系統誤差，但空白值不可太大。
(3) 校準儀器
儀器不準確引起的系統誤差，透過校準儀器來減小其影響。例如砝碼、移液管和滴定管等，在精確的分析中，必須進行校準，並在計算結果時採用校正值。
(4) 分析結果的校正
校正分析過程的方法誤差，例用重量法測定試樣中高含量的 SiO2 ，因矽酸鹽沉澱不完全而使測定結果偏低，可用光度法測定濾液中少量的矽，而後將分析結果相加。
1 選擇合適的分析方法
(1) 根據試樣的中待測組分的含量選擇分析方法。高含量組分用滴定分析或重量分析法；低含量用儀器分析法。
(2) 充分考慮試樣共存組分對測定的干擾，採用適當的掩蔽或分離方法。
(3) 對於痕量組分，分析方法的靈敏度不能滿足分析的要求，可先定量富集後再進行測定 .
2 減小測量誤差
→稱量：分析天平的稱量誤差為±0.0002g，為了使測量時的相對誤差在0.1%以下，試樣質量必須在0.2 g以上。
→滴定管讀數常有±0.0l mL的誤差，在一次滴定中，讀數兩次，可能造成±0.02 mL的誤差。為使測量時的相對誤差小於0.1%，消耗滴定劑的體積必須在20 mL以上，最好使體積在25 mL左右，一般在20至30mL之間。
→微量組分的光度測定中，可將稱量的準確度提高約一個數量級 。
3 減小隨機誤差
在消除系統誤差的前提下，平行測定次數愈多，平均值愈接近真實值。因此，增加測定次數，可以提高平均值精密度。在化學分析中，對於同一試樣，通常要求平行測定（parallel determination）2-4次。
4 消除系統誤差
(1) 對照試驗 -contrast test
(2) 空白試驗 - blank test
(3) 校準儀器 -calibration instrument
(4) 分析結果的校正 -correction result
5 整理系統誤差
(1) 對照試驗
→與標準試樣的標準結果進行對照 ;
標準試樣、管理樣、合成樣、加入回收法。
→與其它成熟的分析方法進行對照 ;
國家標準分析方法或公認的經典分析方法。
→由不同分析人員，不同實驗室來進行對照試驗。
內檢、外檢。
(2) 空白試驗
空白實驗：在不加待測組分的情況下，按照試樣分析同樣的操作手續和條件進行實驗，所測定的結果為空白值，從試樣測定結果中扣除空白值，來校正分析結果。
消除由試劑、蒸餾水、實驗器皿和環境帶入的雜質引起的系統誤差，但空白值不可太大。
(3) 校準儀器
儀器不準確引起的系統誤差，透過校準儀器來減小其影響。例如砝碼、移液管和滴定管等，在精確的分析中，必須進行校準，並在計算結果時採用校正值。
(4) 分析結果的校正
校正分析過程的方法誤差，例用重量法測定試樣中高含量的 SiO2 ，因矽酸鹽沉澱不完全而使測定結果偏低，可用光度法測定濾液中少量的矽，而後將分析結果相加。