品質統計過程中的意義 CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。製程能力強才可能生產出質量、可靠性高的產品。 製程能力指標是一種表示製程水平高低的方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。 製程能力的研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品的良率在要求的水準之上，可作為製程持續改善的依據。而規格依上下限有分成單邊規格及雙邊規格。只有規格上限和規格中心或只有規格下限和規格中心的規格稱為單邊規格。有規格上下限與中心值，而上下限與中心值對稱的規格稱為雙邊規格。 當我們的產品通過了GageR&R的測試之後，我們即可開始Cpk值的測試。 CPK值越大表示品質越佳。 Cpk——過程能力指數 CPK = Min（CPKu,CPKl) USL (Upper specification limit): 規格上限。 LSL (Low specification limit): 規格下限。 ˉx = (x1+x2+...+xn) / n : 平均值。 T = USL - LSL : 規格公差。 U = (USL + LSL) / 2：規格中心。 CPKu = | USL-ˉx | / 3σ CPKl = | ˉx -LSL | / 3σCpk應用講議 1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。 2. 同Cpk息息相關的兩個引數：Ca , Cp. Ca: 製程準確度。 在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-C)/(T/2)。 Cp: 製程精密度。 在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格， 只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ。 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ 對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL) / 6σ 3. Cpk, Ca, Cp三者的關係： Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關係(集中趨勢)，Cp反應的是散佈關係(離散趨勢) 4. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。 5. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。 6. 計算Cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEVP”函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(U). 規格公差T=規格上限－規格下限；規格中心值U=（規格上限+規格下限）/2； 8. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程準確度：Ca值 (X為所有取樣資料的平均值) Ca的評級標準及處理：
品質統計過程中的意義 CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。製程能力強才可能生產出質量、可靠性高的產品。 製程能力指標是一種表示製程水平高低的方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。 製程能力的研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品的良率在要求的水準之上，可作為製程持續改善的依據。而規格依上下限有分成單邊規格及雙邊規格。只有規格上限和規格中心或只有規格下限和規格中心的規格稱為單邊規格。有規格上下限與中心值，而上下限與中心值對稱的規格稱為雙邊規格。 當我們的產品通過了GageR&R的測試之後，我們即可開始Cpk值的測試。 CPK值越大表示品質越佳。 Cpk——過程能力指數 CPK = Min（CPKu,CPKl) USL (Upper specification limit): 規格上限。 LSL (Low specification limit): 規格下限。 ˉx = (x1+x2+...+xn) / n : 平均值。 T = USL - LSL : 規格公差。 U = (USL + LSL) / 2：規格中心。 CPKu = | USL-ˉx | / 3σ CPKl = | ˉx -LSL | / 3σCpk應用講議 1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。 2. 同Cpk息息相關的兩個引數：Ca , Cp. Ca: 製程準確度。 在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-C)/(T/2)。 Cp: 製程精密度。 在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格， 只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ。 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ 對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL) / 6σ 3. Cpk, Ca, Cp三者的關係： Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關係(集中趨勢)，Cp反應的是散佈關係(離散趨勢) 4. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。 5. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。 6. 計算Cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEVP”函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(U). 規格公差T=規格上限－規格下限；規格中心值U=（規格上限+規格下限）/2； 8. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程準確度：Ca值 (X為所有取樣資料的平均值) Ca的評級標準及處理：