介電常數的虛部與介質的電導率有關係,電導率越大損耗虛部也越大,
ε=ε‘+iσ/ω
ε‘為實介電係數
σ為介質電導率
ω為電磁波的角頻率
經典的描述為：介電常數是複數量,實部代表電容率,虛部代表損耗,虛部和電導有關,虛部越大,電導率越大,絕緣效能越差.但都是絕緣體它不導電的,是介電材料.導電就等於擊穿了.
技術引數：
1．Q值測量
a．Q值測量範圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率範圍（100kHz～10MHz）： 頻率範圍（10MHz～160MHz）：
固有誤差：≤5％±滿度值的2% 固有誤差：≤6％±滿度值的2%
工作誤差：≤7％±滿度值的2% 工作誤差：≤8％±滿度值的2%
2．電感測量範圍：4.5nH~7.9mH
3．電容測量：1~205
主電容調節範圍：18～220pF
準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
注：大於直接測量範圍的電容測量見後頁使用說明
4. 訊號源頻率覆蓋範圍
頻率範圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示預置功能: 預置範圍：5～1000。
6．B-測試儀正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對溼度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．淨重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
高頻/音訊介電常數測試儀GDAT-A測試注意事項
a．本儀器應水平安放；
b．如果你需要較精確地測量，請接通電源後，預熱30分鐘；
c．調節主調電容或主調電容數碼開關時，當接近諧振點時請緩調；
d．被測件和測試電路接線柱間的接線應儘量短，足夠粗，並應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分佈引數所帶來的測量誤差；
e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；
f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有遮蔽的試件，遮蔽罩應連線在低電位端的接線柱。
影響介電效能的因素
1頻率
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率範圍內它們的 。r和 tans幾乎是恆定的，且被用作工程電介質材料，然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。
電容率和介質損耗因數的變化是由於介質極化和電導而產生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的介面極化所引起的.
2溫度
損耗指數在一個頻率下可以出現一個大值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度係數可以是正的或負的，這取決於在測量溫度下的介質損耗指數大值位置。
3溼度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境溼度進行控制是必不可少的.
注:溼度的顯著影響常常發生在 1MHz以下及微波頻率範圍內
4電場強度
存在介面極化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下，只要電介質中不出現區域性放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關
測量方法的選擇：
高頻/音訊介電常數測試儀GDAT-A測量電容率和介質損耗因數的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。
1 零點指示法適用於頻率不超過50 MHz時的測量。測量電容率和介質損耗因數可用替代法;也就是在接人試樣和不接試樣兩種狀態下，調節迴路的一個臂使電橋平衡。通常回路採用西林電橋、變壓器電橋(也就是互感藕合比例臂電橋)和並聯 T型網路。變壓器電橋的優點:採用保護電極不需任何外加附件或過多操作，就可採用保護電極;它沒有其他網路的缺點。
2 諧振法適用於10 kHz一幾百MHz的頻率範圍內的測量。該方法為替代法測量，常用的是變電抗法。但該方法不適合採用保護電極。
介電常數的虛部與介質的電導率有關係,電導率越大損耗虛部也越大,
ε=ε‘+iσ/ω
ε‘為實介電係數
σ為介質電導率
ω為電磁波的角頻率
經典的描述為：介電常數是複數量,實部代表電容率,虛部代表損耗,虛部和電導有關,虛部越大,電導率越大,絕緣效能越差.但都是絕緣體它不導電的,是介電材料.導電就等於擊穿了.
技術引數：
1．Q值測量
a．Q值測量範圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率範圍（100kHz～10MHz）： 頻率範圍（10MHz～160MHz）：
固有誤差：≤5％±滿度值的2% 固有誤差：≤6％±滿度值的2%
工作誤差：≤7％±滿度值的2% 工作誤差：≤8％±滿度值的2%
2．電感測量範圍：4.5nH~7.9mH
3．電容測量：1~205
主電容調節範圍：18～220pF
準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
注：大於直接測量範圍的電容測量見後頁使用說明
4. 訊號源頻率覆蓋範圍
頻率範圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示預置功能: 預置範圍：5～1000。
6．B-測試儀正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對溼度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．淨重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
高頻/音訊介電常數測試儀GDAT-A測試注意事項
a．本儀器應水平安放；
b．如果你需要較精確地測量，請接通電源後，預熱30分鐘；
c．調節主調電容或主調電容數碼開關時，當接近諧振點時請緩調；
d．被測件和測試電路接線柱間的接線應儘量短，足夠粗，並應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分佈引數所帶來的測量誤差；
e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；
f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有遮蔽的試件，遮蔽罩應連線在低電位端的接線柱。
影響介電效能的因素
1頻率
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率範圍內它們的 。r和 tans幾乎是恆定的，且被用作工程電介質材料，然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。
電容率和介質損耗因數的變化是由於介質極化和電導而產生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的介面極化所引起的.
2溫度
損耗指數在一個頻率下可以出現一個大值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度係數可以是正的或負的，這取決於在測量溫度下的介質損耗指數大值位置。
3溼度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境溼度進行控制是必不可少的.
注:溼度的顯著影響常常發生在 1MHz以下及微波頻率範圍內
4電場強度
存在介面極化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下，只要電介質中不出現區域性放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關
測量方法的選擇：
高頻/音訊介電常數測試儀GDAT-A測量電容率和介質損耗因數的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。
1 零點指示法適用於頻率不超過50 MHz時的測量。測量電容率和介質損耗因數可用替代法;也就是在接人試樣和不接試樣兩種狀態下，調節迴路的一個臂使電橋平衡。通常回路採用西林電橋、變壓器電橋(也就是互感藕合比例臂電橋)和並聯 T型網路。變壓器電橋的優點:採用保護電極不需任何外加附件或過多操作，就可採用保護電極;它沒有其他網路的缺點。
2 諧振法適用於10 kHz一幾百MHz的頻率範圍內的測量。該方法為替代法測量，常用的是變電抗法。但該方法不適合採用保護電極。