隨著電子產品功能越來越強大，其內部電路也越來越複雜，對生產工藝的要求也越來越高，透過生產製造過程中的環環檢測，可及時發現不良品，避免其流入後續工序甚至流入市場，一旦流入市場，會造成重大的利益損失。因此如何快速高效的將不良品檢測出來，是產品生產製造過程中的關鍵環節。
Short測試(即短路測試)主要用來測試產品引腳之間是否存在短路現象，用於判斷元器件是否虛焊、漏焊、內部走線是否短路等，它是最常規也是最重要的測試專案。
現有技術中Short測試的基本原理為，short測試的方式之一是加電流測電壓，透過在被測的x，y引腳施加電流，同時測試x，y兩引腳之間的電壓，然後再除以施加的電流，即可得到x，y兩引腳之間的阻值。如果阻值約為0，說明x，y兩引腳短路，被測品為不合格，如果阻值無窮大，說明x，y兩引腳之間沒有短路，產品為合格。其中，CUR+代表恆流電源正端，CUR-代表恆流電源負端，VO代表電壓測量儀正端，COM代表電壓測量儀負端，x代表VO和CUR+的被測端，y代表COM和CUR-的被測端。
當前的Short測試一般都採用逐點遍歷的方法，但隨著產品複雜度的提升，測試點位也在成倍增加，測試時間會隨著引腳數量的增加呈指數型增長，因此如何提升Short測試速度是影響整個測試裝置效率的關鍵。為解決這一問題，當前測試領域一般採用如下兩種方法：
1、採用更快速的器件或者增加硬體電路的複雜度，來提升測試速度。缺點是成本增加，維護量增大，裝置競爭力下降。
2、只測試相鄰點位。缺點是無法全覆蓋，產品內部交叉走線處無法測試，容易將不良品流出去。
隨著電子產品功能越來越強大，其內部電路也越來越複雜，對生產工藝的要求也越來越高，透過生產製造過程中的環環檢測，可及時發現不良品，避免其流入後續工序甚至流入市場，一旦流入市場，會造成重大的利益損失。因此如何快速高效的將不良品檢測出來，是產品生產製造過程中的關鍵環節。
Short測試(即短路測試)主要用來測試產品引腳之間是否存在短路現象，用於判斷元器件是否虛焊、漏焊、內部走線是否短路等，它是最常規也是最重要的測試專案。
現有技術中Short測試的基本原理為，short測試的方式之一是加電流測電壓，透過在被測的x，y引腳施加電流，同時測試x，y兩引腳之間的電壓，然後再除以施加的電流，即可得到x，y兩引腳之間的阻值。如果阻值約為0，說明x，y兩引腳短路，被測品為不合格，如果阻值無窮大，說明x，y兩引腳之間沒有短路，產品為合格。其中，CUR+代表恆流電源正端，CUR-代表恆流電源負端，VO代表電壓測量儀正端，COM代表電壓測量儀負端，x代表VO和CUR+的被測端，y代表COM和CUR-的被測端。
當前的Short測試一般都採用逐點遍歷的方法，但隨著產品複雜度的提升，測試點位也在成倍增加，測試時間會隨著引腳數量的增加呈指數型增長，因此如何提升Short測試速度是影響整個測試裝置效率的關鍵。為解決這一問題，當前測試領域一般採用如下兩種方法：
1、採用更快速的器件或者增加硬體電路的複雜度，來提升測試速度。缺點是成本增加，維護量增大，裝置競爭力下降。
2、只測試相鄰點位。缺點是無法全覆蓋，產品內部交叉走線處無法測試，容易將不良品流出去。