X射線衍射儀（XRD）是從事材料、化工、化學、分析測試等研究的用戶們常用的儀器設備之一，對物相的定性分析是其基本用途之一，那麼你知道要如何用XRD數據進行物相定性分析嗎？

首先讓我們來簡單了解下用XRD進行物相分析的基本原理。每種晶態物質都有其獨特的Ｘ射線衍射圖譜，二者之間存在一一對應的關系，物質不會因為與其它物質混合而引起衍射的變化，也就是說混合物中各物相的衍射互不干擾，彼此獨立。因此混合物的衍射圖譜不過是其各組成物質物相圖譜的簡單疊加，只需要將待檢物相的衍射圖譜與已知物相的衍射圖譜進行比對，就可以鑑別出晶態物質的物相，對比工作往往需要借助物相定性分析卡片PDF。

物相定性分析卡片起源於1938年，幾位科學家收集了1000種物質的衍射圖，並以d-I數據組代替衍射花樣，做了製備衍射數據卡片的工作。後來於1942年，“美國測試與材料協會”（ASTM）正式出版約1300張衍生數據卡片，開啟了物相定性分析卡片的職業生涯。隨著時間的推移，物相定性分析卡片也在不斷流變，1969年粉末衍射標準聯合委員會負責編輯和出版了JCPDS卡，後裝訂成冊，稱為PDF卡片（Powder Diffraction Files）。曾幾何時，卡片的比對工作都是科學家們人工進行的，到那時隨著計算機技術的發展，現如今科學家們已經可以讓檢索程序進行自動檢索，而物相定性分析卡片也進化成電子版，目前學界最常用的是ICDD提供的電子版PDF卡片數據庫。

xrd是x射線衍射，可以分析物相，SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結構。

AES是指能譜，主要分析濃度分布。

STM掃描隧道顯微鏡，也是觀察超微結構的。

AFM是原子力顯微鏡，主要是觀察表面形貌用的-----回答的不是很全。