X射線衍射法是一種材料結構分析方法，其原理是利用X射線與物質相互作用的特性，通過測量物質中X射線的衍射圖案，推斷出物質的晶體結構和晶格參數。

具體來說，X射線在物質中傳播時，會與物質中的原子核和電子相互作用，產生散射和吸收現象。

當X射線遇到晶體時，會被晶體中的原子散射，形成一系列衍射點。

這些衍射點的位置和強度與晶體的晶格結構和原子排列方式有關，因此可以通過測量衍射圖案，推斷出晶體的結構和參數。X射線衍射法是一種非常重要的材料結構分析方法，廣泛應用於材料科學、化學、物理、生物等領域。

照相法以光源發出的特徵X射線照射多晶樣品，並用底片記錄衍射花樣。根據樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法，其中德拜法應用最為普遍。當一束單色X射線入射到晶體時，由於晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。