顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標誌，主要用於放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。下面對傳統的顯微鏡進行分類描述。

金相顯微鏡是將傳統的光學顯微鏡與計算機通過光電轉換有機的結合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機顯示螢幕上觀察實時動態影象，電腦型金相顯微鏡並能將所需要的圖片進行編輯、儲存和列印。

金相顯微鏡主要反映和表徵構成材料的相和組織組成物、晶粒、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷的數量、形貌、大小、分佈、取向、空間排布狀態等。

具備以下特點：

1、採用世界上最優秀的無限遠雙重色彩校正及反差增強型光學系統，為使用者提供最銳利的影象。

2、採用5種上部部件和3種下部部件及兩個立柱組合方式，可根據您對材料檢測的要求和經濟成本進行任意靈活的組合，可實現對透明材料、不透明材料以及熒光材料的分析，同時具有強大的升級空間，保證您未來的檢測要求。

3、業界最大式樣高度可達到380毫米的，提供非凡的操作空間。

4、貼近使用者的靈活性，裝置的部件升級無需專業人員，使用者可自行操作完成。

偏光顯微鏡

偏光顯微鏡是鑑定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨清楚，也可用染色發來進行觀察，但有些物體則不能觀察，必須利用偏光顯微鏡。

偏光顯微鏡的特點：就是將普通光改變為偏光進行鏡檢的方法，以鑑別某一物質是單折射或雙折射性。雙折射性是晶體的基本特性，因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。

偏光鏡檢術的方式

正相鏡檢：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡，同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用於檢查物體的雙折射性。

錐光鏡檢：又稱干涉鏡檢，這種方法用於觀察物體的單軸或雙軸性。

偏光顯微鏡在裝置上的要求

1、光源：最好採用單色光，因為光的速度，折射率和干涉現像因波長的不同而有差異。

2、目鏡：要帶有十字線的目鏡。

3、聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。

4、伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。

偏光鏡檢術的要求

1、載物臺的中心與光軸同軸。

2、起偏鏡和檢偏鏡應處於正交位置。

3、製片不宜過薄。

體視顯微鏡

體視顯微鏡又稱"實體顯微鏡"或"解剖鏡"。由一個共用的初級物鏡，對物體成像後的兩光束被兩組中間物鏡變焦分開，併成一體視角再經各自的目鏡成像，它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得。是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用於生物學、醫學、農林、工業及海洋生物各部門。

具有如下地特點：

1、雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角（一般為12度至15度），因此成像具有三維立體感。

2、像是直立的，便於操作和解剖，這是由於在目鏡下方的稜鏡把像倒轉過來的緣故。

3、雖然放大率不如常規顯微鏡，但其工作距離很長 。

4、焦深大，便於觀察被檢物體的全層。

5、視場直徑大。