在正極表面形成的正極-電解質相(CEI)有著重要的意義。然而,由於這種奈米級別的成分對外界非常敏感,因此目前仍缺少有效的工具表徵其結構和化學特性,以致關於CEI的很多方面仍不為大眾所知。於此,斯坦福大學的崔屹教授團隊採用了冷凍電鏡技術,以維持CEI的原始狀態,實現正極介面的視覺化。作者發現在正常的工作條件下,在碳酸酯類電解質中,單顆粒級別的正極表面並不存在緊密的包覆層。然而,在簡單的外短路條件下,在正極表面形成與負極SEI膜相類似的固體電解質相,並且能透過電化學反應原位轉變成穩定、形態保持的CEI。這種形態保持的CEI有助於提升電池的庫倫效率和整體容量保持率。
作者首先製備了正常比例的NMC正極(NMC532)和富鋰富錳的NMC正極(LMR),並採用所製備的正極材料組裝2032紐扣電池,碳酸酯類電解液用量為60ml。組裝的電池以0.5C在2.5-4.3V進行迴圈,其中根據正極的理論容量確定充放電倍率(NMC532的1C=150mAh/g,LMR的1C=250mAh/g)。作者透過外短路在正極表面形成SEI。具體過程如下:紐扣電池組裝完畢,在OCV下靜置1h,然後用一對導電的鑷子夾持電池,分別短路1s、10s、20s、30s和>120s。在正文中,形態保持的CEI是在短路20s下形成的,過短路樣品的短路時間超過120s。
正如開頭所述,正極CEI的奈米形貌、複雜的化學特性、對空氣和溼度敏感以及對X射線和電子輻射敏感,導致CEI的表徵很困難。即使同時獲得了高空間解析度的結構資訊和化學資訊,其他因素也可能會影響這些觀測結果。例如,來自負極側的可溶性SEI物種、高多孔電極上的滯留電解質、電池組裝或拆卸過程中無意的短暫短路等都會影響CEI物種的區分。為此,作者在實驗設計時充分考慮各種因素可能對CEI觀察帶來的影響。首先合成了正極奈米顆粒以避免傳統TEM樣品製備(比如切片或聚焦離子束)可能引入的化學或機械假象。奈米粒子提供了清晰的介面,高的表面體積比,可能導致更顯著的CEI生長,從而有利於電化學CEI表徵。第二,在電極水平上,作者使用了相對較低的活性材料負載確保電極材料的充分迴圈,減少樣品製備過程中可能的電解液殘留。第三,作者使用最少的溶劑來輕輕沖洗迴圈後的整個電極,用清潔細鑷子尖端來刮電極,將奈米顆粒裝入TEM網格上,以避免如果使用了超聲波技術後可能引起的其他機械假象。第四,作者採用低溫轉移手段,以避免暴露於空氣或其他可能的副反應,整個樣品製備和轉移過程均在氬氣或液態氮氣環境中進行。
儘管透過冷凍電鏡並沒有在迴圈的電極(2.7-4.3V之間迴圈)樣品上觀察到定義明確的CEI層,但是透過無空氣的XPS表徵發現在迴圈的電極(2.7-4.3V之間迴圈)上確實存在CEI成分。與原始的NMC樣品和在電解液中浸泡24h的NMC樣品對比,迴圈的NMC樣品的XPS C1s譜和O 2p譜顯示了C-O峰,表明形成了CEI成分。更長迴圈的NMC電極表明充電態和放電態電極的表面形貌與原始電極差異不大,在顆粒上沒有粘附任何薄膜,表明電極上的CEI並不是緊密的包覆層。
由於電池界普遍認為持續的電解質分解會在更高的電壓下發生,因此作者使用了富鋰富錳的NMC(LMR)正極進行試驗。試驗結果發現在4.6V和4.8V進行迴圈的電極都不存在緊密的包覆層,但是迴圈後LMR顆粒表面變得更加粗糙,表明在介面上發生了更多的活性電極-電解質作用。一般認為介面成分的持續氧化和產氣會在高電壓下發生,因此儘管發生了許多強烈的氧化反應,但是在顆粒表面仍然不存在定義明確的CEI層。總之,在所有條件下迴圈的電極,其正極顆粒表面都沒有觀察到清晰的介面層。作者認為要麼是因為在正極上CEI分佈高度不均勻,並沒有均一地覆蓋每一個單顆粒,或者是因為即使經過較長的迴圈,CEI成分的數量仍然有限,不會沉積析出產生固體介面。以上結果表明儘管普遍認為會在正極上形成與負極SEI相似化學組成的CEI,但是CEI在電極上的分佈和形貌卻大有不同。
由於未在冷凍電鏡下觀察到電極表面的緊密包覆層,同時考慮到CEI的化學特性與SEI類似,於是作者參考負極SEI的形成機理,使用了簡單的短路方法在正極表面原位形成了穩定、形態保持的CEI。透過對組裝的電池進行快速短路20s,迫使正極的電勢降低至電解液的穩定視窗以外,隨後在正極上發生電解液的分解,形成類似SEI的包覆層。在之後的迴圈過程中,緊密的SEI包覆層會轉變成CEI。經過簡短的短路處理,在冷凍電鏡下於正極顆粒表面觀察到形態保持的薄CEI層(下圖D和E),厚度大概為5-10nm,且大部分為無定型結構。
此外,作者對材料進行了冷凍掃描TEM電子能量損失譜分析(cryo-STEM EELS)。C K邊譜圖顯示在整個包覆層上碳分佈均勻。O K-邊譜圖與Mn L-邊譜圖顯示在形態保持的CEI層中存在明顯的氧。C K邊EELS精細結構的主要峰出現在288eV和290eV,表明分別存在C-H鍵和碳酸酯鍵。形態保持的CEI的鍵環境和無定型結構表明存在烷基碳酸酯的無機聚合物成分。無空氣的XPS結果進一步支援了前面的結論。C 1s和O 2p譜表明與原始電極相比,C=O和C-O訊號明顯增強(下圖C和D)。然後沒有發現F峰,表明CEI中不存在LiF。Mn 2p譜中幾乎沒有發現Mn訊號,表明在CEI形成過程中幾乎沒有過渡金屬損失,形成的CEI均勻覆蓋在整個電極表面。
接著作者考察了形態保持的CEI對正極的電效能影響。形態保持的CEI介面能有效分離電解液中的活性成分,允許鋰離子透過,很大程度上抑制了電極-電解液的副反應。在0.5C倍率下,具有形態保持的CEI的NMC正極的比容量為~147mAh/g,與預期的奈米顆粒具有更好的倍率效能結果一致,同時在充電和放電過程中的過電勢增加更小、更慢。EIS結果得到了同樣的結論。這歸因於電極材料更穩定的介面結構,同時很大程度上抑制了電極-電解液的副反應。 前10個迴圈(不考慮首次充電)的庫倫效率從91%提升至98%,容量保持率也整體增加。在100次迴圈的放電容量仍高達116mAh/g,而原始電極的比容量僅為64mAh/g。
參考文獻:Cathode-Electrolyte Interphase in Lithium Batteries Revealed by Cryogenic Electron Microscopy;Matter 4, 1–11, January 6, 2021;Zewen Zhang, Jinlong Yang, William Huang, Hansen Wang, Weijiang Zhou, Yanbin Li, Yuzhang Li, Jinwei Xu, Wenxiao Huang, Wah Chiu, and Yi Cui.