透射電子顯微鏡是指可以看清分辨率達到納米級的物體精細結構觀測儀器，而球差透射電鏡的球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。相比TEM透射電鏡，由於球差電鏡有效削減了像差所以分辨率得到顯著提高，分辨率的提高意味著能夠對材料進行更精細更準確的結構表徵。

球差透射電鏡和透射電鏡的測試能力區別

球差透射電鏡有TEM和STEM兩種成像模式，在TEM模式中更多地用於形貌的觀察，STEM模式常用於原子構象以及進行EDS，EELS成分線掃和mapping的測試，進行元素分析。由於球差校正透射電子顯微鏡不僅具有亞埃級的空間分辨率，而且兼具多種實驗功能，因此可以在原子尺度內同時研究材料的晶體結構和對應的電子結構特徵，從而理解樣品的微觀晶體結構與性能之間的關聯，是研究材料構效關係的一種非常有效的手段，因而其在物理學、材料學和化學等學科領域具有非常廣泛的應用。

雖然現在ACTEM和ACSTEM正在“大眾化”，但是並非一定要用這麼高大上的裝備。如果你想觀察你的樣品的原子級結構並希望知道原子的元素種類（例如納米晶體催化劑等），ACSTEM將會是比較好的選擇。如果你想觀察樣品的形貌和電子衍射圖案或者樣品在TEM中的原位反應，那麼物鏡校正的ACTEM將會是更好的選擇。

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