SEM（掃描電子顯微鏡）主要用於對材料進行形貌、結構和化學成分分析。它具有高分辨率、高靈敏度和廣泛的應用範圍等特性。

通過SEM，可以觀察材料的表面形貌、晶體結構和微觀結構，揭示其微觀特性和內部缺陷。

同時，SEM還可以進行元素分析和能譜測試，準確定量物質成分，並檢測輕元素。

此外，SEM可提供高質量的圖像和信息，對材料的形態、粒度和粗糙度等特性進行準確定量分析。總之，SEM是一種強大的表徵工具，對材料科學和工程領域的研究起到重要的推動作用。

1. SEM主要表徵材料的特性有：表面形貌、表面結構、顆粒大小、晶體結構等。
2. 這是因為SEM（掃描電子顯微鏡）可以通過掃描樣品表面並利用電子束與樣品相互作用來獲取高分辨率的圖像。
通過觀察這些圖像，可以獲得材料的表面形貌、顆粒大小、晶體結構等信息。
3. 此外，SEM還可以通過能譜分析等技術獲取材料的元素組成和化學狀態等更詳細的信息，從而對材料的特性進行更全面的表徵。
因此，SEM是一種非常重要的材料表徵工具，可以幫助科研人員深入了解材料的微觀結構和性質。

SEM（掃描電子顯微鏡）主要表徵材料具有以下特性：1. 顯微分辨率高：SEM能夠觀察到納米尺度的細微結構和特徵，具有較高的分辨率。

2. 表面成分分析：通過SEM配合能譜儀，可以對樣品表面進行元素成分分析，得到準確的化學組成信息。

3. 表面形貌觀察：SEM可以觀察和分析樣品表面的形貌特徵，包括表面粗糙度、紋理、顆粒分布等。

4. 深度信息獲取：通過透射電子顯微鏡（TEM）技術，可以獲得樣品的內部結構和深度信息。

5. 快速成像：SEM技術操作簡單，成像速度快，可以實時觀察樣品的形貌變化和動態過程。

通過以上特性，SEM被廣泛應用於材料科學、納米技術、半導體研究等領域的表徵和分析。

一） 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

（二） 樣品製備過程簡單，不用切成薄片。

（三） 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。

（四） 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。

（五） 圖象的放大範圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大範圍。分辨率介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。

（六） 電子束對樣品的損傷與汙染程度較小。

（七） 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。

xrd是利用x射線衍射表徵晶體材料物相，或對其求結晶度、半定量的常用方法。 sem是利用二次電子背散射像來表徵材料微觀下的形貌。