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  • 1 # 用戶4375676353520567

    立體視覺(steroscopic vision) 是感受三維視覺空間,感知深度的能力。立體視覺以雙眼單視為基礎。其形成是由於兩眼在觀察一個三維物體時,由於兩眼球之間存在距離,故而存在視差角,物體在兩眼視網膜上的成像存在相似性及一定的差異,形成雙眼視差(binocular disparity)。視中樞融像時,雙眼水平視差信息形成了我們感知物體的三維形狀及該物體與人眼的距離或視野中兩個物體相對關系的深度知覺。許多職業如駕駛交通工具、繪畫雕塑、建築業、機械精細加工、電子等高科技作業要求良好的立體視覺。 檢查立體視覺可應用同視機、立體視覺檢查圖或計算機立體視覺檢測系統。立體視覺銳度的正常值≤60弧秒。 以雙眼單視為基礎。外界物體在雙眼視網膜相應部位成像,經過視覺中樞融合成為立體的單一物像,稱為雙眼單視。用障礙閱讀法、同視機法、隨機點立體圖、Worth四點試驗、Bagolini線狀鏡等檢查。 同視機法使用畫片檢查三級功能:

    ①同時知覺畫片檢查主觀斜視角和客觀斜視角,兩者相差5°以上為異常視網膜對應。

    ②融合畫片為一對畫片,兩張圖上有差異點稱為控制點。將兩個鏡筒臂等量向內向外移動,至兩畫片不再重合為一。向內移動範圍為集合,向外移動範圍為分開,兩者相加為融合範圍。正常融合範圍: 集合25°~ 30°,分開4°~ 6°,垂直分開2°~ 4°。

    ③立體視覺畫片雙眼畫片的相似圖形有一定差異,在同視機上觀察有深度感,檢測視差角。 隨機點立體圖: 有Titmus 立體視覺圖和隨機表式立體視覺圖(正常立體視覺銳度≤60弧秒),用偏振光眼鏡或用紅綠眼鏡檢查。

  • 2 # 羨羨今天作腰了沒

    1、結構差異:

    主要體現在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間,電子源在樣品上方發射電子,經過聚光鏡,然後穿透樣品後,有後續的電磁透鏡繼續放大電子光束,最後投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品在電子束末端,電子源在樣品上方發射的電子束,經過幾級電磁透鏡縮小,到達樣品。當然後續的信號探側處理系統的結構也會不同,但從基本物理原理上講沒什麼實質性差別。

    2、基本工作原理:

    透射電鏡:電子束在穿過樣品時,會和樣品中的原子發生散射,樣品上某一點同時穿過的電子方向是不同,這樣品上的這一點在物鏡1-2倍焦距之間,這些電子通過過物鏡放大後重新匯聚,形成該點一個放大的實像,這個和凸透鏡成像原理相同。

  • 3 # 用戶640814581290

    1、定義不同:

      光學顯微鏡是利用光學原理,把人眼所不能分辨的微小物體放大成像,以供人們提取微細結構信息的光學儀器。

      全自動掃描電子顯微鏡技術的應用是建立在光學顯微鏡的基礎之上的,光學顯微鏡的分辨率為0.2μm,透射電子顯微鏡的分辨率為0.2nm,也就是說透射電子顯微鏡在光學顯微鏡的基礎上放大了1000倍。

      2、分類不同:

      光學顯微鏡有多種分類方法,按使用目鏡的數目可分為三目,雙目和單目顯微鏡;按圖像是否有立體感可分為立體視覺和非立體視覺顯微鏡;按觀察對像可分為生物和金相顯微鏡等;按光學原理可分為偏光,相襯和微分干涉對比顯微鏡等。

      全自動掃描電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。

      3、組成結構不同:

      顯微鏡的光學系統主要包括物鏡、目鏡、反光鏡和聚光器四個部件。廣義的說也包括照明光源、濾光器、蓋玻片和載玻片等。

      全自動掃描電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源櫃三部分組成。

      和光學顯微鏡及透射電鏡相比,掃描電鏡具有以下特點:

      1、能夠直接觀察樣品表面的結構,樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

      2、樣品製備過程簡單,不用切成薄片。

      3、樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉,因此,可以從各種角度對樣品進行觀察。

      4、景深大,圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍,比透射電鏡大幾十倍。

      5、圖象的放大範圍廣,分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍,它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大範圍。分辨率介於光學顯微鏡與透射電鏡之間,可達3nm。

      6、電子束對樣品的損傷與汙染程度較小。

      7、在觀察形貌的同時,還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。

  • 4 # 0778123456

    電子顯微鏡,簡稱電鏡,英文名Electron Microscope(簡稱EM),經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源櫃三部分組成。

    電子顯微鏡技術的應用是建立在光學顯微鏡的基礎之上的,光學顯微鏡的分辨率為0.2μm,透射電子顯微鏡的分辨率為0.2nm,也就是說透射電子顯微鏡在光學顯微鏡的基礎上放大了1000倍。

    掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表徵的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;並且景深大, 視野大, 成像立體效果好。此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合, 可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在岩土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電子顯微鏡在科學研究領域具有重大作用。

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