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1 # 愛慕甄甄
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2 # 用戶1965567181329624
一、 明視野觀察(Bright field) 二、浮雕相襯顯微鏡(RC) 三、微分干涉稱鏡檢術(Differential interference contrast DIC) 四、暗視野觀察(Dark field) 五、偏光顯微鏡(Polarizing microscope ) 六、相差鏡檢法(Phase contrast) 七、熒光顯微鏡(Fluorescence Microscopy) 以上列舉了常見的觀察顯微鏡的7種方法目錄,下面我們來說細談談各個方法的不同在於哪裡,我們應該如何取捨。 1)我們看一種大家都熟悉的鏡檢方式——明視野鏡檢,所有顯微鏡均能完成此功能; 2)相差顯微鏡利用被檢物體的光程之差進行鏡檢,也就是有效地利用光的干涉現象,將人眼不可分辨的相位差變為可分辨的振幅差,即使是無色透明的物質也可成為清晰可見; 3)微分干涉稱鏡檢術是利用特製的渥拉斯頓稜鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等,光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體,在相位上略有差別。由於兩光束的裂距極小,而不出現重影現象,使圖象呈現出立體的三維感覺; 4)暗視野實際是暗場照明發。它的特點和明視野不同,不直接觀察到照明的光線,而觀察到的是被檢物體反射或衍射的光線。因此,視場成為黑暗的背景,而被檢物體則呈現明亮的象,m..m 暗視野觀察所需要的特殊附件是暗視野聚光鏡; 5)偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色發來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡; 6)1975年,Robert Hoffman 博士發明2002年,專利到期,各顯微鏡廠家紛紛推出採用以自己名義命名的RC技術產品原理斜射光照射到標本產生折射、衍射,光線通過物鏡光密度梯度調節器產生不同陰影,從而使透明標本表面產生明暗差異,增加觀察對比度 7)熒光鏡檢術是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體,使之受激發後而產生長波長的熒光,然後觀察。 二、 物鏡的工作距離: 顯微鏡的工作距離就是指物鏡的工作距離,放大倍數越大,數值孔徑越大,工作距離就越短,但是無窮遠像距顯微物鏡的工作距離可以比同放大倍率的195顯微物鏡的長。 顯微鏡的用途及分類 目前,光學顯微鏡已由傳統的生物顯微鏡演變成諸多種類的專用顯微鏡,按照其成像原理可分為: ①幾何光學顯微鏡:包括生物顯微鏡、落射光顯微鏡、倒置顯微鏡、金相顯微鏡、暗視野顯 微鏡等。 ②物理光學顯微鏡:包括相差顯微鏡、偏光顯微鏡、干涉顯微鏡、相差偏振光顯微鏡、相差 干涉顯微鏡、相差熒光顯微鏡等。 ③信息轉換顯微鏡:包括熒光顯微鏡、顯微分光光度計、圖像分析顯微鏡、聲學顯微鏡、照 相顯微鏡、電視顯微鏡等。 1.顯微鏡的用途: a生物顯微鏡:一般來說顯微鏡可分大類為體視顯微鏡與生物顯微鏡。由於用途不同、要求不同,因而產生了許多分支,但基本原理還是一樣的。偏光、相襯、透射和落射等等還是歸屬於生物顯微鏡。 b體視顯微鏡:又稱解剖顯微鏡、實體顯微鏡和立體顯微鏡,是用途比較多的顯微鏡。其操作簡便,對標本要求不高,工作距離長,觀察時有較強的立體感,可以對實物進行觀察,也可以在觀察的同時對標本進行一些操作。而不是像生物顯微鏡那樣需要對標本進行切片處理,切片需要相應的技術和設備。因此,體視顯微鏡在微電子、精密儀器儀表裝配與維修、微雕等領域有很廣泛的應用。在生物、醫學領域廣泛用於解剖操作和顯微外科手術(目前已歸類為手術顯微鏡),用於生物、醫學領域其光源只能用冷光源(光纖);在工業中用於微小零件和集成電路的觀測、裝配、檢查等工作。 c金相顯微鏡 :很多人都喜歡寫成"金像顯微鏡", 金相顯微鏡是專門用於觀察金屬和礦物等不透明物體金相 組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射顯微鏡中觀察,故相和普通顯微鏡的主要差別在於前者以反射光,而後者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面,被物面反射後再返回物鏡成像。這種反射照明方式也廣泛用於集成電路硅片的檢測工作。 2.光源: 顯微鏡用的光源 主要有:熒光燈、LED燈、鹵素燈、白熾燈、冷光源(光纖)等等,但市面上因品種較多,所以良莠不齊, 購時還應多注意: 偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料(鑒定物質細微結構光學性質)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨得清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。 熒光顯微鏡 :利用標本發出的熒光來觀察物體 立體顯微鏡:可用來觀察物體的立體像等 投影顯微鏡:可將物像投影在投影屏上,供幾個人同時觀察 倒置顯微鏡:用於織培養和微生物的研究 相襯顯微鏡:用於觀察無色透明的標本 細胞培養、組暗視場顯微鏡:用於觀察細菌和螺旋體的運動 單筒顯微鏡 、視頻顯微鏡、便攜式顯微鏡,這幾類顯微鏡其實就是體視顯微鏡的延伸,原理與性質是一樣的。只不過是銷售商對其方便銷售而採取的叫法,真正名稱還是叫做體視顯微鏡。 檢測顯微鏡:一般來說,就是經過改良的體視顯微鏡 或 金相顯微鏡 。對於觀察精度要求不高的物體可用體視顯微鏡來代替,如:觀察晶元、線路板等,而對於要求高的被觀察物體則要用到後者,如:半導體硅晶片、金相標樣、金屬材料等等,由於特殊需要還可選配暗場、偏光及試樣壓平器等附件。
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偏光顯微鏡的操作步驟:
(1)按“顯微鏡觀察玻片標本時的注意事項”所述的有關操作步驟和方法,分別用反光鏡的平面鏡和凹面鏡對光。努力使視野中呈現一個處處一樣亮的正目形。同時比較平面鏡與凹面鏡的反光能力的強弱。
(2)任選一種根或莖的切片標本,用鋼筆在其蓋玻片表面塗一直徑約為1 mm的圓點,按前面所述的有關操作步驟安放和移動切片標本,使這一圓點正對低倍鏡。然後用低倍鏡檢查。若發現視野中未見有目點區域,則調整圓點的位置,直至它進人了視野,這時總結經驗教訓,並隨意移開圓點,重新使之正對低倍鏡。爭取一次對準。
(3)將偏光顯微鏡聚光鏡升至其頂面與載物臺表面幾乎齊平處停下,然後一面向左旋撥光圈的小柄,一面觀察視野裡照明度的變化,直至小柄到達終點。再一面向右旋撥光圈的上柄,一面觀察視野裡照明度的變化,直至小柄到達終點。
(4)將光圈擴至大後停下,然後一面級級下降聚光鏡,一面觀察視野中明度的變化,直至偏光顯微鏡聚光鏡降至其低位。再一面級緩上升聚光鏡。一面觀察視野中照明度變化,直至聚光鏡升至與載物臺兒乎齊平為止。
(5)調出偏光顯微鏡觀察切片標本的焦距,調好後試探一下,將低倍物鏡降至什麼程度,才能使標本的影像消失。